SMT加(jia)(jia)工中AOI设备的(de)用途自动(dong)化(hua)光(guang)学检(jian)(jian)测(ce)(ce)是一(yi)种利用光(guang)学捕捉PCB图(tu)像的(de)方法，以(yi)查(cha)看组件(jian)是否丢(diu)失，是否在(zai)(zai)(zai)(zai)正确的(de)位(wei)置，以(yi)识(shi)别缺陷，并确保制(zhi)造(zao)过程的(de)质(zhi)量。它可以(yi)检(jian)(jian)查(cha)所有(you)尺(chi)寸的(de)组件(jian)，如01005,0201，和(he)(he)(he)(he)0402s和(he)(he)(he)(he)包，如BGAs,CSPs,LGAs,PoPs，和(he)(he)(he)(he)QFNs。AOI的(de)引(yin)入开启了(le)实时(shi)(shi)(shi)巡检(jian)(jian)功能(neng)。随着(zhe)高速、大(da)批量生产(chan)(chan)线的(de)出现，一(yi)个(ge)不正确的(de)机器(qi)设置、在(zai)(zai)(zai)(zai)PCB上放置错误的(de)部件(jian)或(huo)对齐问题都可能(neng)导致大(da)量的(de)制(zhi)造(zao)缺陷和(he)(he)(he)(he)随后(hou)在(zai)(zai)(zai)(zai)短时(shi)(shi)(shi)间(jian)内的(de)返工。当初的(de)AOI机器(qi)能(neng)够进行二维(wei)测(ce)(ce)量，如检(jian)(jian)查(cha)板(ban)的(de)特(te)征和(he)(he)(he)(he)组件(jian)的(de)特(te)征，以(yi)确定(ding)X和(he)(he)(he)(he)Y坐标和(he)(he)(he)(he)测(ce)(ce)量。3D系统(tong)在(zai)(zai)(zai)(zai)2D上进行了(le)扩展，将高度(du)维(wei)度(du)添加(jia)(jia)到方程中，从而提(ti)(ti)供X、Y和(he)(he)(he)(he)Z坐标和(he)(he)(he)(he)测(ce)(ce)量。注意(yi):有(you)些AOI系统(tong)实际(ji)上并不“测(ce)(ce)量”组件(jian)的(de)高度(du)。AOI在(zai)(zai)(zai)(zai)制(zhi)造(zao)过程早(zao)期(qi)发现错误，并在(zai)(zai)(zai)(zai)板(ban)被移到下一(yi)个(ge)制(zhi)造(zao)步骤之前保证工艺质(zhi)量。AOI通过向生产(chan)(chan)线反馈(kui)并提(ti)(ti)供历(li)史数据和(he)(he)(he)(he)生产(chan)(chan)统(tong)计来帮助提(ti)(ti)高产(chan)(chan)量。确保质(zhi)量在(zai)(zai)(zai)(zai)整个(ge)过程中得到控制(zhi)，节省(sheng)了(le)时(shi)(shi)(shi)间(jian)和(he)(he)(he)(he)金钱，因为材料浪费、修理(li)和(he)(he)(he)(he)返工、增加(jia)(jia)的(de)制(zhi)造(zao)劳动(dong)力(li)、时(shi)(shi)(shi)间(jian)和(he)(he)(he)(he)费用，更(geng)不用说所有(you)设备故障的(de)成本。AOI检(jian)(jian)测(ce)(ce)误判(pan)的(de)定(ding)义(yi)及存(cun)在(zai)(zai)(zai)(zai)原(yuan)困(kun)、检(jian)(jian)测(ce)(ce)误判(pan)的(de)定(ding)义(yi)及存(cun)在(zai)(zai)(zai)(zai)原(yuan)困(kun)、检(jian)(jian)测(ce)(ce)误判(pan)的(de)定(ding)义(yi)及存(cun)在(zai)(zai)(zai)(zai)原(yuan)困(kun)，欢迎(ying)了(le)解。阳江全(quan)自动(dong)AOI检(jian)(jian)测(ce)(ce)设备市场价

AOI，即自(zi)动(dong)光(guang)学(xue)检(jian)(jian)查(cha)(cha)。它(ta)是自(zi)动(dong)检(jian)(jian)查(cha)(cha)经过(guo)波峰焊(han)(han)(han)以(yi)及回流焊(han)(han)(han)后的(de)(de)(de)(de)(de)(de)印刷(shua)电路板(ban)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)焊(han)(han)(han)锡焊(han)(han)(han)接状况和实装(zhuang)情(qing)况的(de)(de)(de)(de)(de)(de)装(zhuang)置。首先，机(ji)器(qi)(qi)通过(guo)内(nei)部(bu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)照明单元，将(jiang)(jiang)焊(han)(han)(han)锡及元器(qi)(qi)件分(fen)(fen)解成不(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)颜(yan)(yan)色(se)。在制作检(jian)(jian)查(cha)(cha)程序时，首先取一块标(biao)准(zhun)板(ban)，对上面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)各(ge)个元器(qi)(qi)件的(de)(de)(de)(de)(de)(de)不(bu)同部(bu)分(fen)(fen)分(fen)(fen)别设定合适的(de)(de)(de)(de)(de)(de)颜(yan)(yan)色(se)参(can)数。在进行检(jian)(jian)查(cha)(cha)时，机(ji)器(qi)(qi)将(jiang)(jiang)拍摄到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)标(biao)准(zhun)板(ban)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)图像(xiang)作为(wei)标(biao)准(zhun)影像(xiang)，以(yi)设定好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)颜(yan)(yan)色(se)参(can)数作为(wei)标(biao)准(zhun)。将(jiang)(jiang)被检(jian)(jian)查(cha)(cha)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)基板(ban)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)图像(xiang)与标(biao)准(zhun)影像(xiang)进行对比，以(yi)设定好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)色(se)参(can)数为(wei)基准(zhun)进行判别。广州精密AOI检(jian)(jian)测(ce)设备AOI又称AOI光(guang)学(xue)自(zi)动(dong)检(jian)(jian)测(ce)设备，已成为(wei)制造业保证(zheng)产品质量的(de)(de)(de)(de)(de)(de)重(zhong)要检(jian)(jian)测(ce)工具(ju)和过(guo)程质量控制工具(ju)。

  AOI光学检测原(yuan)理  AOI，即自动(dong)光学检查。它是(shi)自动(dong)检查经(jing)过波峰(feng)焊(han)以及回流焊(han)后的(de)(de)印刷电路板(ban)的(de)(de)焊(han)锡焊(han)接状况(kuang)和实装情(qing)况(kuang)的(de)(de)装置。首先(xian)(xian)，机器(qi)通过内部的(de)(de)照明单元(yuan)，将焊(han)锡及元(yuan)器(qi)件分(fen)解(jie)成不同的(de)(de)颜色。在制作(zuo)(zuo)检查程(cheng)序时，首先(xian)(xian)取一块标(biao)准(zhun)(zhun)板(ban)，对上(shang)面的(de)(de)各个元(yuan)器(qi)件的(de)(de)不同部分(fen)分(fen)别设定合适(shi)的(de)(de)颜色参(can)数。在进(jin)行检查时，机器(qi)将拍摄(she)到(dao)的(de)(de)标(biao)准(zhun)(zhun)板(ban)的(de)(de)图(tu)像作(zuo)(zuo)为(wei)标(biao)准(zhun)(zhun)影像，以设定好的(de)(de)颜色参(can)数作(zuo)(zuo)为(wei)标(biao)准(zhun)(zhun)。将被检查的(de)(de)基(ji)板(ban)的(de)(de)图(tu)像与标(biao)准(zhun)(zhun)影像进(jin)行对比(bi)，以设定好的(de)(de)色参(can)数为(wei)基(ji)准(zhun)(zhun)进(jin)行判别。

光(guang)(guang)(guang)(guang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)转(zhuan)(zhuan)化(hua)摄(she)影系统指的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是光(guang)(guang)(guang)(guang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)二(er)(er)极(ji)管器(qi)(qi)件(jian)和与(yu)之搭配的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)成(cheng)像(xiang)系统。是获得(de)图像(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)”眼睛”,原(yuan)理都是光(guang)(guang)(guang)(guang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)二(er)(er)极(ji)管接受到(dao)被检(jian)测物体反射的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)线，光(guang)(guang)(guang)(guang)能转(zhuan)(zhuan)化(hua)产(chan)生(sheng)(sheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷(he)(he)，转(zhuan)(zhuan)化(hua)后的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷(he)(he)被光(guang)(guang)(guang)(guang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)传感器(qi)(qi)中(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)元件(jian)收集，传输(shu)形成(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)压(ya)模(mo)(mo)拟(ni)信(xin)(xin)号二(er)(er)极(ji)管吸收光(guang)(guang)(guang)(guang)线强度不(bu)同时生(sheng)(sheng)成(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)模(mo)(mo)拟(ni)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)压(ya)大小不(bu)同，依次(ci)输(shu)出的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)模(mo)(mo)拟(ni)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)压(ya)值被转(zhuan)(zhuan)化(hua)为(wei)数字(zi)灰阶0-255值，灰阶值反映了(le)物体反射光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)强弱，进而(er)(er)实现识别不(bu)同被检(jian)测物体的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)目的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)转(zhuan)(zhuan)化(hua)器(qi)(qi)可(ke)以(yi)分为(wei)CCD和CMOS两种，因为(wei)制(zhi)作(zuo)(zuo)工艺与(yu)设(she)计不(bu)同，CCD与(yu)CMOS传感器(qi)(qi)工作(zuo)(zuo)原(yuan)理主要表现为(wei)数字(zi)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷(he)(he)传送的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方式的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)不(bu)同CCD采用硅基半导体加工工艺，并设(she)置了(le)垂直和水平移位寄(ji)存器(qi)(qi)，电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)极(ji)所产(chan)生(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)场推动(dong)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷(he)(he)链接方式传输(shu)到(dao)模(mo)(mo)数转(zhuan)(zhuan)换器(qi)(qi)。而(er)(er)CMOS采用了(le)无机半导体加工工艺，每像(xiang)素(su)设(she)计了(le)额外(wai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)，每个像(xiang)素(su)都可(ke)以(yi)被定位，无需CCD中(zhong)那样的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷(he)(he)移位设(she)计，而(er)(er)且其(qi)对图像(xiang)信(xin)(xin)息(xi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)读取(qu)速度远(yuan)远(yuan)高于CCD芯(xin)片，因光(guang)(guang)(guang)(guang)晕和拖尾(wei)等过度曝(pu)光(guang)(guang)(guang)(guang)而(er)(er)产(chan)生(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)非自然现象的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)发生(sheng)(sheng)频率要低(di)得(de)多，价格和功耗相较(jiao)CCD光(guang)(guang)(guang)(guang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)转(zhuan)(zhuan)化(hua)器(qi)(qi)也低(di)。但其(qi)非常明(ming)显的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)缺点，作(zuo)(zuo)为(wei)半导体工艺制(zhi)作(zuo)(zuo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)像(xiang)素(su)单(dan)元缺陷多，灵(ling)敏(min)度会有问(wen)题，为(wei)每个像(xiang)素(su)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)提供所需的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)额外(wai)空间不(bu)会作(zuo)(zuo)为(wei)光(guang)(guang)(guang)(guang)敏(min)区(qu)，域(yu)而(er)(er)且CMOS芯(xin)片表面上的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)敏(min)区(qu)域(yu)部(bu)分小于CCD芯(xin)片。如何根据(ju)AOI的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)功能选(xuan)择(ze)设(she)备？

炉(lu)(lu)前(qian)与炉(lu)(lu)后AOI炉(lu)(lu)前(qian)AOI主要是放置(zhi)在(zai)多(duo)(duo)功(gong)能(neng)贴(tie)片(pian)(pian)机前(qian)，因为现在(zai)很多(duo)(duo)通讯录产(chan)(chan)品(pin)都会(hui)加(jia)屏(ping)蔽(bi)(bi)(bi)罩(zhao)，那(nei)么只(zhi)能(neng)在(zai)炉(lu)(lu)前(qian)AOI先检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)屏(ping)蔽(bi)(bi)(bi)罩(zhao)下的(de)(de)元(yuan)件(jian)贴(tie)装(zhuang)品(pin)质(zhi)(zhi)，再由多(duo)(duo)功(gong)能(neng)机贴(tie)屏(ping)蔽(bi)(bi)(bi)罩(zhao)，如果是焊(han)(han)接(jie)后再检(jian)查(cha)，那(nei)么炉(lu)(lu)后AOI就无(wu)法(fa)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)屏(ping)蔽(bi)(bi)(bi)罩(zhao)下的(de)(de)元(yuan)件(jian)焊(han)(han)接(jie)品(pin)质(zhi)(zhi)。大部分(fen)(fen)(fen)贴(tie)片(pian)(pian)加(jia)工(gong)厂都是炉(lu)(lu)后AOI，主要检(jian)查(cha)焊(han)(han)接(jie)的(de)(de)品(pin)质(zhi)(zhi)，刷选出(chu)(chu)焊(han)(han)接(jie)不良，以免组(zu)装(zhuang)包装(zhuang)出(chu)(chu)货(huo)后出(chu)(chu)问(wen)题，那(nei)么返工(gong)会(hui)更费时费力。AOI检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)步(bu)骤1.给AOI进行(xing)编(bian)程(cheng)，将(jiang)相(xiang)关PCB和元(yuan)件(jian)数据学(xue)习。2.学(xue)习预测(ce)(ce)(ce)(ce)，将(jiang)多(duo)(duo)块焊(han)(han)接(jie)板(ban)利用光学(xue)进行(xing)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)和算法(fa)分(fen)(fen)(fen)析，找出(chu)(chu)待测(ce)(ce)(ce)(ce)物的(de)(de)变化规律，建立标准的(de)(de)OK板(ban)模(mo)型3.学(xue)习完成，进行(xing)在(zai)线(xian)调(diao)试(shi)(shi)，在(zai)批(pi)量生(sheng)产(chan)(chan)前(qian)进行(xing)小批(pi)次(ci)试(shi)(shi)产(chan)(chan)，将(jiang)试(shi)(shi)产(chan)(chan)的(de)(de)PCBA与OK板(ban)进行(xing)比(bi)对，合(he)格(ge)则再人工(gong)目检(jian)4.对试(shi)(shi)产(chan)(chan)PCBA进行(xing)功(gong)能(neng)测(ce)(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)，如都正常(chang)，则开放批(pi)量生(sheng)产(chan)(chan)。按分(fen)(fen)(fen)辨(bian)率(lv)分(fen)(fen)(fen)类： 0402元(yuan)件(jian)AOI设(she)备，0201元(yuan)件(jian)AOI设(she)备。中山高速AOI检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)设(she)备销售(shou)公司(si)

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可简(jian)单地将AOI分为预防问题(ti)和(he)发(fa)(fa)现问题(ti)2种(zhong)，印刷、贴(tie)片之后(hou)(hou)(hou)的(de)检(jian)测(ce)归(gui)类与(yu)预防问题(ti)，回(hui)流(liu)焊(han)后(hou)(hou)(hou)的(de)检(jian)测(ce)归(gui)类于发(fa)(fa)展(zhan)问题(ti)，在回(hui)流(liu)焊(han)后(hou)(hou)(hou)端检(jian)测(ce)中，检(jian)测(ce)系统可以检(jian)查元(yuan)件的(de)缺(que)失(shi)、偏移和(he)歪斜情况，以及(ji)所(suo)有极性方面的(de)缺(que)陷(xian)，还(hai)一定要对焊(han)点的(de)正(zheng)确性以及(ji)焊(han)膏(gao)不(bu)足、焊(han)接(jie)短路和(he)翘脚(jiao)等缺(que)陷(xian)进行检(jian)测(ce)，回(hui)流(liu)焊(han)后(hou)(hou)(hou)端检(jian)测(ce)是目(mu)前AOI 当下(xia)流(liu)行的(de)选择，此位(wei)置可发(fa)(fa)现全(quan)部的(de)装(zhuang)配错误(wu)，提(ti)供高度的(de)安全(quan)性，图4为某(mou)型AOI对回(hui)流(liu)焊(han)后(hou)(hou)(hou)PCB的(de)检(jian)测(ce)图像，采用了3种(zhong)不(bu)同(tong)的(de)照(zhao)明模式，分别(bie)侧重于焊(han)点，零(ling)件和(he)雷射印刷文字图像的(de)采集(ji)。图5为回(hui)流(liu)焊(han)后(hou)(hou)(hou)AOI识别(bie)的(de)不(bu)同(tong)类型的(de)缺(que)陷(xian)。阳江(jiang)全(quan)自动(dong)AOI检(jian)测(ce)设备市(shi)场价(jia)

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