应用(yong)(yong)(yong)于3DSPI/AOI领域的(de)(de)DLP结(jie)构(gou)(gou)光(guang)(guang)(guang)投(tou)(tou)影模块(kuai)编码(ma)(ma)结(jie)构(gou)(gou)光(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)(yuan)蓄势(shi)待(dai)发在2D视(shi)(shi)觉(jue)时代，光(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)(yuan)主要起到以下作(zuo)用(yong)(yong)(yong)：1、照亮(liang)目标，提(ti)高(gao)(gao)亮(liang)度(du)；2、形(xing)成有(you)利于图(tu)像(xiang)(xiang)处(chu)(chu)理(li)的(de)(de)成像(xiang)(xiang)效(xiao)果，降低系统的(de)(de)复杂性和对图(tu)像(xiang)(xiang)处(chu)(chu)理(li)算法(fa)的(de)(de)要求；3、克(ke)服环(huan)境光(guang)(guang)(guang)干扰，保证(zheng)图(tu)像(xiang)(xiang)稳定性，提(ti)高(gao)(gao)系统的(de)(de)精(jing)度(du)、效(xiao)率；通过恰当的(de)(de)光(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)(yuan)照明设(she)计，可以使图(tu)像(xiang)(xiang)中(zhong)的(de)(de)目标信息(xi)与(yu)背景信息(xi)得到比较(jiao)好分(fen)离，这样不仅极大降低图(tu)像(xiang)(xiang)处(chu)(chu)理(li)的(de)(de)算法(fa)难度(du)，同时提(ti)高(gao)(gao)系统的(de)(de)精(jing)度(du)和可靠性随(sui)着(zhe)3D视(shi)(shi)觉(jue)的(de)(de)兴起，光(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)(yuan)不仅用(yong)(yong)(yong)于照明，更(geng)重要的(de)(de)是(shi)用(yong)(yong)(yong)来产生编码(ma)(ma)结(jie)构(gou)(gou)光(guang)(guang)(guang)，例如格雷码(ma)(ma)、相移(yi)条(tiao)纹(wen)、散(san)斑等(deng)。DLP技术(shu)即因其高(gao)(gao)速(su)、高(gao)(gao)分(fen)辨率、高(gao)(gao)精(jing)度(du)、成熟稳定、灵活性高(gao)(gao)等(deng)特性，在整个商(shang)用(yong)(yong)(yong)投(tou)(tou)影领域占据(ju)优先地(di)位(wei)。随(sui)着(zhe)市(shi)场需求的(de)(de)扩(kuo)大，也被大量用(yong)(yong)(yong)于工业3D视(shi)(shi)觉(jue)领域，他的(de)(de)作(zuo)用(yong)(yong)(yong)主要是(shi)投(tou)(tou)影结(jie)构(gou)(gou)光(guang)(guang)(guang)条(tiao)纹(wen)。主流3D-SPI产品的(de)(de)检(jian)(jian)测原(yuan)理(li)有(you)相位(wei)轮廓测量术(shu)（PhaseMeasuringProfilometry，PMP）和激(ji)光(guang)(guang)(guang)三角轮廓测量术(shu)。SPI的(de)(de)作(zuo)用(yong)(yong)(yong)和检(jian)(jian)测原(yuan)理(li)是(shi)什么(me)？揭阳精(jing)密SPI检(jian)(jian)测设(she)备功能

SPI锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)(cha)(cha)(cha)机(ji)(ji)有何能(neng)力？可(ke)以(yi)(yi)检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)(cha)(cha)(cha)出那些锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)不(bu)(bu)良？锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)(cha)(cha)(cha)机(ji)(ji)只能(neng)做(zuo)表面(mian)的(de)(de)(de)(de)影像检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)(cha)(cha)(cha)，如果有被物体覆盖住的(de)(de)(de)(de)区域是(shi)(shi)无法(fa)检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)(cha)(cha)(cha)得到(dao)的(de)(de)(de)(de)，不(bu)(bu)过锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)(cha)(cha)(cha)机(ji)(ji)的(de)(de)(de)(de)使(shi)用时(shi)机(ji)(ji)应该是(shi)(shi)在零件还没(mei)摆放上去以(yi)(yi)前(qian)，所以(yi)(yi)不(bu)(bu)会(hui)有锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)被覆盖的(de)(de)(de)(de)情(qing)形发生锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)(cha)(cha)(cha)机(ji)(ji)可(ke)以(yi)(yi)量测(ce)下(xia)(xia)列的(de)(de)(de)(de)数据：锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)量锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)的(de)(de)(de)(de)高度锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)的(de)(de)(de)(de)面(mian)积/体积锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)的(de)(de)(de)(de)平整度锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)(cha)(cha)(cha)机(ji)(ji)可(ke)以(yi)(yi)侦测(ce)出下(xia)(xia)列的(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)良：锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)是(shi)(shi)否偏移锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)是(shi)(shi)否高度偏差(拉尖)锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)是(shi)(shi)否架桥锡(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)是(shi)(shi)否缺陷破(po)损广东SPI检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)设(she)备价格行(xing)情(qing)3分钟了解智能(neng)制造中的(de)(de)(de)(de)AOI检(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)技(ji)术。

SPI在(zai)PCBA加工行业中指的是(shi)锡(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)检测(ce)设(she)备，锡(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)检查（即英文SolderPasteInspection），因此(ci)简称(cheng)SPI。SPI和AOI这(zhei)(zhei)两个PCBA检测(ce)设(she)备都(dou)是(shi)利用(yong)光学(xue)影像(xiang)来检查品(pin)质(zhi)(zhi)，不(bu)过(guo)SPI一(yi)般放置在(zai)锡(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)机后面，主要(yao)检查锡(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)的印(yin)(yin)刷(shua)量、平整度(du)、高度(du)、体积、面积、是(shi)否(fou)高度(du)偏(pian)差（拉尖、）偏(pian)移、缺(que)(que)陷破损等。在(zai)SMT贴(tie)片生产过(guo)程(cheng)(cheng)中，印(yin)(yin)刷(shua)焊膏(gao)(gao)的量与接(jie)缝可靠性和质(zhi)(zhi)量有(you)关：过(guo)多或(huo)过(guo)少(shao)都(dou)会(hui)转化(hua)为(wei)不(bu)可靠的接(jie)缝，这(zhei)(zhei)对产品(pin)质(zhi)(zhi)量有(you)很(hen)大的影响(xiang)，是(shi)不(bu)允许(xu)的。据行业统(tong)计，在(zai)SMT组装所有(you)工序中，有(you)75%的缺(que)(que)陷是(shi)由于锡(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)不(bu)良造成(cheng)的，因此(ci)锡(xi)(xi)(xi)膏(gao)(gao)印(yin)(yin)刷(shua)工艺的好(hao)坏很(hen)大程(cheng)(cheng)度(du)上解决了SMT工艺的品(pin)质(zhi)(zhi)。由此(ci)可见，在(zai)SMT产线(xian)工艺中应用(yong)SPI是(shi)非(fei)常(chang)重要(yao)的一(yi)个步骤。

解(jie)决相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)误(wu)差(cha)的(de)(de)新技术PMP技术中另一个(ge)主要(yao)的(de)(de)基(ji)础条件(jian)就是(shi)对于相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)误(wu)差(cha)的(de)(de)控制。相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)法(fa)通(tong)(tong)(tong)过(guo)对投影光(guang)(guang)(guang)栅(zha)(zha)相(xiang)(xiang)位(wei)场进行移(yi)(yi)(yi)相(xiang)(xiang)来(lai)(lai)增加(jia)若干常量相(xiang)(xiang)位(wei)而得(de)到多幅光(guang)(guang)(guang)栅(zha)(zha)图(tu)来(lai)(lai)求解(jie)相(xiang)(xiang)位(wei)场。由于多幅相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)图(tu)比(bi)单幅相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)图(tu)提供(gong)了(le)更多的(de)(de)信息，所(suo)以可以得(de)到更高精度(du)的(de)(de)结果。传统(tong)的(de)(de)方式都依靠(kao)机(ji)械移(yi)(yi)(yi)动来(lai)(lai)实(shi)现(xian)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)。为达(da)(da)(da)到精确的(de)(de)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)，都使(shi)(shi)用了(le)比(bi)较高精度(du)的(de)(de)马达(da)(da)(da)，如通(tong)(tong)(tong)过(guo)陶瓷压电马达(da)(da)(da)（PZT），线性马达(da)(da)(da)加(jia)光(guang)(guang)(guang)栅(zha)(zha)尺等(deng)方式。并(bing)通(tong)(tong)(tong)过(guo)大量的(de)(de)算法(fa)来(lai)(lai)减少相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)的(de)(de)误(wu)差(cha)。可编程结构光(guang)(guang)(guang)栅(zha)(zha)因为其正弦光(guang)(guang)(guang)栅(zha)(zha)是(shi)通(tong)(tong)(tong)过(guo)软件(jian)编程实(shi)现(xian)的(de)(de)，所(suo)以其在相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)时(shi)也是(shi)通(tong)(tong)(tong)过(guo)软件(jian)来(lai)(lai)实(shi)现(xian)，通(tong)(tong)(tong)过(guo)此种技术可以使(shi)(shi)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)误(wu)差(cha)趋向于“0”，提高了(le)量测精度(du)。并(bing)且此技术不需要(yao)机(ji)械部件(jian)，减少了(le)设(she)备的(de)(de)故障几率(lv)，降低机(ji)械成(cheng)(cheng)本(ben)与维(wei)修成(cheng)(cheng)本(ben)。AOI的(de)(de)发展需求集成(cheng)(cheng)电路，欢迎(ying)来(lai)(lai)电咨询。

AOI虽然具有比人(ren)工检测(ce)更(geng)高的(de)(de)(de)(de)效率，但(dan)毕(bi)竟是通过图像采集和分析(xi)处(chu)理来得出结果(guo)，而图像分析(xi)处(chu)理的(de)(de)(de)(de)相关(guan)软(ruan)件技术目(mu)(mu)前(qian)(qian)还没达到人(ren)脑的(de)(de)(de)(de)级别，因(yin)此(ci)，在实际使(shi)用(yong)中的(de)(de)(de)(de)一些(xie)特殊情(qing)况，AOI的(de)(de)(de)(de)误(wu)判、漏(lou)判在所难(nan)免。目(mu)(mu)前(qian)(qian)AOI使(shi)用(yong)中存在的(de)(de)(de)(de)问题有：（1）多(duo)锡、少锡、偏移、歪斜的(de)(de)(de)(de)工艺要求标(biao)准界定不同，容(rong)易(yi)(yi)导(dao)致误(wu)判。（2）电容(rong)容(rong)值不同而规格大(da)小(xiao)和颜色相同，容(rong)易(yi)(yi)引起(qi)(qi)漏(lou)判。（3）字(zi)符处(chu)理方式不同，引起(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)极性判断准确(que)性差异(yi)较(jiao)大(da)。（4）大(da)部(bu)分AOI对虚焊的(de)(de)(de)(de)理解发生歧义(yi)，造成漏(lou)判推诿。（5）存在屏(ping)蔽(bi)圈、屏(ping)蔽(bi)罩遮蔽(bi)点(dian)的(de)(de)(de)(de)检测(ce)问题。（6）BGA、FC等倒装元件的(de)(de)(de)(de)焊接(jie)(jie)质量(liang)难(nan)以检测(ce)。（7）多(duo)数AOI编程复杂、繁琐且调(diao)整时间长，不适合科研单位、小(xiao)型OEM厂(chang)、多(duo)规格小(xiao)批(pi)量(liang)产(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)生产(chan)(chan)单位。（8）多(duo)数AOI产(chan)(chan)品(pin)检测(ce)速(su)度(du)较(jiao)慢，有少数采用(yong)扫(sao)描(miao)方法(fa)的(de)(de)(de)(de)AOI速(su)度(du)较(jiao)快，但(dan)误(wu)判、漏(lou)判率更(geng)高。SPI是英文SolderPasteInspection的(de)(de)(de)(de)简称，行业内一般人(ren)直接(jie)(jie)称呼为SPI。，SPI的(de)(de)(de)(de)作(zuo)用(yong)和检测(ce)原(yuan)理是什(shen)么？珠海(hai)精密SPI检测(ce)设备服务

在线3D-SPI（3D锡膏检测机）在SMT生产中(zhong)的作(zuo)用(yong)当今元件(jian)PCB的复杂程度，己经超越(yue)人(ren)眼所(suo)能识别的能力(li)。揭阳(yang)精(jing)密(mi)SPI检测设备功能

SPI锡(xi)膏检(jian)(jian)查机(ji)的(de)检(jian)(jian)测(ce)原(yuan)理锡(xi)膏检(jian)(jian)查机(ji)增加了锡(xi)膏测(ce)厚(hou)的(de)雷(lei)射装置(zhi)，所以(yi)SPI可能遇到(dao)的(de)问题与AOI类(lei)似，就是(shi)要先取一(yi)片拼板目(mu)检(jian)(jian)，没有(you)(you)(you)问题后让(rang)机(ji)器拍(pai)照(zhao)当成标准样品，后面的(de)板子就依(yi)照(zhao)首片板子的(de)影(ying)像及资料来(lai)作(zuo)判断(duan)，由于这样会有(you)(you)(you)很(hen)多的(de)误判率，所以(yi)需要不断(duan)的(de)修改其参数(shu)，直到(dao)误判率降低到(dao)一(yi)定范(fan)围(wei)，因此(ci)并(bing)不是(shi)把SPI机(ji)器买回来(lai)就可以(yi)马上使用，还需要有(you)(you)(you)工(gong)程师维护。SPI锡(xi)膏检(jian)(jian)测(ce)仪只能做表面的(de)影(ying)像检(jian)(jian)查，如果(guo)有(you)(you)(you)被物体覆盖住(zhu)的(de)区域设(she)备是(shi)无法检(jian)(jian)查到(dao)的(de)。揭(jie)阳精密SPI检(jian)(jian)测(ce)设(she)备功能

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