AOI光学(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)设(she)(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)检(jian)(jian)测(ce)多种类型(xing)的(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，具体取(qu)决于设(she)(she)备(bei)(bei)的(de)(de)功能和(he)(he)配(pei)置，以(yi)(yi)(yi)下是(shi)一(yi)些(xie)常(chang)见的(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)类型(xing)：表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)：包括划痕、磨损、凹陷(xian)(xian)、裂纹、污染(ran)、颗粒(li)等(deng)(deng)。AOI设(she)(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)检(jian)(jian)测(ce)产品(pin)表(biao)(biao)面(mian)上的(de)(de)这些(xie)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，并对(dui)其进行分析和(he)(he)分类。元件(jian)(jian)缺(que)(que)失(shi)或错位(wei)：AOI设(she)(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)检(jian)(jian)测(ce)电(dian)(dian)子元件(jian)(jian)、元器件(jian)(jian)或其他组装(zhuang)件(jian)(jian)是(shi)否(fou)缺(que)(que)失(shi)或错位(wei)，以(yi)(yi)(yi)确保产品(pin)组装(zhuang)的(de)(de)正确性。焊(han)接(jie)缺(que)(que)陷(xian)(xian)：对(dui)于焊(han)接(jie)工艺，AOI设(she)(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)检(jian)(jian)测(ce)焊(han)点(dian)的(de)(de)质(zhi)量，包括焊(han)缝(feng)的(de)(de)露出、焊(han)盘(pan)的(de)(de)引(yin)脚缺(que)(que)陷(xian)(xian)、焊(han)接(jie)质(zhi)量不(bu)良等(deng)(deng)。不(bu)良引(yin)脚或接(jie)触问题(ti)：AOI设(she)(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)用于检(jian)(jian)测(ce)电(dian)(dian)子元器件(jian)(jian)的(de)(de)引(yin)脚或连接(jie)点(dian)是(shi)否(fou)存(cun)在不(bu)良接(jie)触、松动、错位(wei)等(deng)(deng)问题(ti)。线(xian)路短(duan)路和(he)(he)开路：AOI设(she)(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)检(jian)(jian)测(ce)电(dian)(dian)子电(dian)(dian)路板上的(de)(de)线(xian)路是(shi)否(fou)存(cun)在短(duan)路或开路，以(yi)(yi)(yi)确保电(dian)(dian)路的(de)(de)正常(chang)工作和(he)(he)连通性。AOI光学(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)技术可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)帮(bang)助企业实现存(cun)货减少、周(zhou)转快速、成本(ben)低廉(lian)等(deng)(deng)效益。浙江人工智能AOI光学(xue)(xue)检(jian)(jian)测(ce)设(she)(she)备(bei)(bei)厂

AOI光(guang)学(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)(ce)设(she)备(bei)(bei)在(zai)产(chan)(chan)品(pin)(pin)质(zhi)(zhi)量(liang)提(ti)(ti)高方(fang)面(mian)发挥着重要作用(yong)，具(ju)体包括(kuo)以下几个方(fang)面(mian)：缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)检(jian)测(ce)(ce)(ce)：AOI设(she)备(bei)(bei)能够快速准确(que)地(di)检(jian)测(ce)(ce)(ce)出各类缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，如焊点问题、短路(lu)(lu)、开路(lu)(lu)、电压(ya)异(yi)常、漏电等。通过(guo)自(zi)动化(hua)的(de)(de)图像(xiang)分(fen)(fen)析和(he)算(suan)法识别，它(ta)可(ke)(ke)(ke)以检(jian)测(ce)(ce)(ce)到人(ren)眼难(nan)以察觉的(de)(de)微小缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，确(que)保产(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)质(zhi)(zhi)量(liang)。质(zhi)(zhi)量(liang)控制：AOI设(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)(ke)以在(zai)生产(chan)(chan)线上实时(shi)进(jin)行产(chan)(chan)品(pin)(pin)检(jian)测(ce)(ce)(ce)，将检(jian)测(ce)(ce)(ce)结果与设(she)定的(de)(de)标(biao)准进(jin)行比较，及时(shi)发现和(he)拦(lan)截有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)产(chan)(chan)品(pin)(pin)。这有(you)助(zhu)于(yu)防止(zhi)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)产(chan)(chan)品(pin)(pin)流入市场或下游(you)工序，保证(zheng)产(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)一致性(xing)(xing)和(he)符(fu)合性(xing)(xing)，提(ti)(ti)高整体的(de)(de)质(zhi)(zhi)量(liang)水(shui)平。自(zi)动化(hua)检(jian)测(ce)(ce)(ce)：与人(ren)工检(jian)查相(xiang)比，AOI设(she)备(bei)(bei)具(ju)备(bei)(bei)快速且可(ke)(ke)(ke)靠(kao)的(de)(de)自(zi)动化(hua)检(jian)测(ce)(ce)(ce)能力(li)。它(ta)可(ke)(ke)(ke)以处理(li)大量(liang)的(de)(de)产(chan)(chan)品(pin)(pin)，并在(zai)短时(shi)间内(nei)完成(cheng)(cheng)检(jian)测(ce)(ce)(ce)，很(hen)大程度提(ti)(ti)高了(le)(le)生产(chan)(chan)效率。此外，它(ta)也减(jian)少了(le)(le)对人(ren)力(li)资源的(de)(de)依赖，降低了(le)(le)劳动成(cheng)(cheng)本(ben)。数(shu)据(ju)分(fen)(fen)析和(he)改进(jin)：AOI设(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)(ke)以生成(cheng)(cheng)详细的(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)(ce)报告(gao)和(he)数(shu)据(ju)分(fen)(fen)析，记录(lu)每个产(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)(ce)结果。通过(guo)分(fen)(fen)析这些数(shu)据(ju)，可(ke)(ke)(ke)以发现缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)产(chan)(chan)生的(de)(de)原因和(he)规(gui)(gui)律，帮(bang)助(zhu)企业(ye)改进(jin)产(chan)(chan)品(pin)(pin)设(she)计、工艺(yi)和(he)生产(chan)(chan)过(guo)程，从而提(ti)(ti)高产(chan)(chan)品(pin)(pin)质(zhi)(zhi)量(liang)。福(fu)建智(zhi)能AOI光(guang)学(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)(ce)设(she)备(bei)(bei)哪家好AOI光(guang)学(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)(ce)技术可(ke)(ke)(ke)以对不同(tong)型号产(chan)(chan)品(pin)(pin)制定不同(tong)的(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)(ce)规(gui)(gui)则和(he)参数(shu)来规(gui)(gui)避差异(yi)性(xing)(xing)。

AOI光学检(jian)测(ce)(ce)(ce)设(she)备(bei)(bei)通(tong)(tong)(tong)(tong)过使用计(ji)算机(ji)视觉技术，可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)自动扫描(miao)和(he)分(fen)析产品表(biao)面的(de)(de)(de)图像(xiang)(xiang)，并(bing)与事(shi)先定义好的(de)(de)(de)合(he)格标准(zhun)进(jin)行比较。当检(jian)测(ce)(ce)(ce)到(dao)不合(he)格的(de)(de)(de)测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)结(jie)果(guo)时(shi)，AOI设(she)备(bei)(bei)通(tong)(tong)(tong)(tong)常(chang)(chang)会(hui)采取以(yi)(yi)(yi)下几(ji)种方式进(jin)行反(fan)馈：图像(xiang)(xiang)标记：AOI设(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)在产品图像(xiang)(xiang)上(shang)标记出(chu)检(jian)测(ce)(ce)(ce)到(dao)的(de)(de)(de)缺陷或异常(chang)(chang)区域，例如使用颜色(se)标记或在图像(xiang)(xiang)上(shang)叠加文字说(shuo)明。这样操作(zuo)(zuo)员就可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)直(zhi)观(guan)地(di)看(kan)到(dao)问题(ti)所在。报警信(xin)号：AOI设(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)通(tong)(tong)(tong)(tong)过声音、光指示(shi)或其(qi)他方式发送报警信(xin)号，以(yi)(yi)(yi)提醒操作(zuo)(zuo)员出(chu)现了不合(he)格的(de)(de)(de)测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)结(jie)果(guo)。操作(zuo)(zuo)员可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)立即采取行动，停止相关生产或采取修复措施(shi)。数据记录(lu)和(he)报告：AOI设(she)备(bei)(bei)通(tong)(tong)(tong)(tong)常(chang)(chang)会(hui)自动记录(lu)检(jian)测(ce)(ce)(ce)结(jie)果(guo)和(he)图像(xiang)(xiang)，并(bing)生成(cheng)详细的(de)(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)(ce)报告。这些报告包括检(jian)测(ce)(ce)(ce)到(dao)的(de)(de)(de)缺陷类(lei)型、位置、大小等(deng)信(xin)息(xi)。操作(zuo)(zuo)员可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)通(tong)(tong)(tong)(tong)过查(cha)看(kan)报告了解不合(he)格测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)结(jie)果(guo)的(de)(de)(de)详细情况，并(bing)进(jin)行分(fen)析和(he)改进(jin)。远程(cheng)控(kong)制(zhi)(zhi)和(he)通(tong)(tong)(tong)(tong)知：一些AOI设(she)备(bei)(bei)具有(you)远程(cheng)控(kong)制(zhi)(zhi)和(he)通(tong)(tong)(tong)(tong)知功能。当检(jian)测(ce)(ce)(ce)到(dao)不合(he)格测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)结(jie)果(guo)时(shi)，设(she)备(bei)(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)通(tong)(tong)(tong)(tong)过网络向工厂(chang)管(guan)理(li)系统发送通(tong)(tong)(tong)(tong)知，或将报警信(xin)息(xi)发送给相关人员，以(yi)(yi)(yi)便(bian)及(ji)时(shi)采取措施(shi)。

对于(yu)印刷(shua)线(xian)(xian)路(lu)板（PCB）类产(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)AOI光(guang)(guang)(guang)(guang)学检测系(xi)统，处理(li)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)背景(jing)(jing)是(shi)一(yi)(yi)个重(zhong)要的(de)(de)(de)(de)问(wen)(wen)(wen)题。由(you)于(yu)PCB上的(de)(de)(de)(de)金属导线(xian)(xian)和(he)组件(jian)可(ke)能(neng)会反(fan)(fan)(fan)(fan)射光(guang)(guang)(guang)(guang)线(xian)(xian)，导致背景(jing)(jing)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)，从而干扰(rao)(rao)检测结(jie)果。以(yi)(yi)(yi)(yi)下是(shi)一(yi)(yi)些常用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)(fa)来(lai)处理(li)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)背景(jing)(jing)问(wen)(wen)(wen)题：光(guang)(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)(yuan)选择：选择适合的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)(yuan)可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)减(jian)(jian)少(shao)(shao)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)问(wen)(wen)(wen)题。一(yi)(yi)种常用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)(fa)是(shi)使用(yong)(yong)特(te)殊的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)(yuan)，例如(ru)，有(you)向(xiang)光(guang)(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)(yuan)或侧(ce)向(xiang)光(guang)(guang)(guang)(guang)源(yuan)(yuan)(yuan)，可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)改变光(guang)(guang)(guang)(guang)线(xian)(xian)入射角度来(lai)减(jian)(jian)少(shao)(shao)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)。滤(lv)(lv)光(guang)(guang)(guang)(guang)器(qi)(qi)(qi)和(he)偏振器(qi)(qi)(qi)：使用(yong)(yong)滤(lv)(lv)光(guang)(guang)(guang)(guang)器(qi)(qi)(qi)可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)过(guo)滤(lv)(lv)掉(diao)特(te)定波长的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)线(xian)(xian)，减(jian)(jian)少(shao)(shao)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)干扰(rao)(rao)。偏振器(qi)(qi)(qi)可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)将光(guang)(guang)(guang)(guang)线(xian)(xian)限制(zhi)在一(yi)(yi)个特(te)定的(de)(de)(de)(de)方(fang)向(xiang)，降低反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)。图像(xiang)(xiang)处理(li)算(suan)法(fa)(fa)：借助图像(xiang)(xiang)处理(li)算(suan)法(fa)(fa)可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)对图像(xiang)(xiang)进(jin)行处理(li)，减(jian)(jian)少(shao)(shao)背景(jing)(jing)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)影响。例如(ru)，可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)使用(yong)(yong)图像(xiang)(xiang)增强(qiang)、滤(lv)(lv)波或背景(jing)(jing)补(bu)偿等算(suan)法(fa)(fa)来(lai)减(jian)(jian)少(shao)(shao)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)干扰(rao)(rao)。调整相机参数：适当调整相机的(de)(de)(de)(de)曝光(guang)(guang)(guang)(guang)时间、对比度和(he)增益等参数可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)减(jian)(jian)少(shao)(shao)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)影响。通(tong)过(guo)优化相机设置，可(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)获得(de)更(geng)好的(de)(de)(de)(de)图像(xiang)(xiang)质(zhi)量，减(jian)(jian)少(shao)(shao)反(fan)(fan)(fan)(fan)光(guang)(guang)(guang)(guang)问(wen)(wen)(wen)题。AOI光(guang)(guang)(guang)(guang)学检测技术通(tong)过(guo)过(guo)程监控与(yu)反(fan)(fan)(fan)(fan)馈实(shi)现预防式制(zhi)程管理(li)，提高制(zhi)造效率(lv)和(he)质(zhi)量稳(wen)定性(xing)。

为(wei)了避免(mian)假阳(yang)性(xing)(xing)(xing)测(ce)试(shi)(shi)结(jie)果(guo)(guo)(guo)(guo)并(bing)提(ti)(ti)高(gao)测(ce)试(shi)(shi)解决方案的(de)(de)(de)(de)真实性(xing)(xing)(xing)，可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)采取(qu)以(yi)(yi)(yi)下策略和(he)(he)(he)措施(shi)：优(you)化算法(fa)(fa)和(he)(he)(he)参数(shu)：对(dui)于(yu)AOI光学(xue)检(jian)测(ce)系统的(de)(de)(de)(de)图(tu)像(xiang)处理算法(fa)(fa)和(he)(he)(he)参数(shu)进行优(you)化和(he)(he)(he)调整，以(yi)(yi)(yi)减(jian)(jian)少假阳(yang)性(xing)(xing)(xing)结(jie)果(guo)(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)发(fa)生。可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)通(tong)过调整阈值、滤波器(qi)和(he)(he)(he)特征提(ti)(ti)取(qu)方法(fa)(fa)等(deng)方式，降低误(wu)判(pan)率，并(bing)提(ti)(ti)高(gao)测(ce)试(shi)(shi)结(jie)果(guo)(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)准(zhun)(zhun)确(que)(que)(que)性(xing)(xing)(xing)。样本和(he)(he)(he)测(ce)试(shi)(shi)范(fan)围的(de)(de)(de)(de)多(duo)样性(xing)(xing)(xing)：在测(ce)试(shi)(shi)过程中使用(yong)多(duo)样化的(de)(de)(de)(de)样本和(he)(he)(he)测(ce)试(shi)(shi)范(fan)围，以(yi)(yi)(yi)覆盖不(bu)同类型和(he)(he)(he)情况的(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)。通(tong)过考虑各种可(ke)(ke)能的(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)情况，可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)减(jian)(jian)少假阳(yang)性(xing)(xing)(xing)结(jie)果(guo)(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)产生，并(bing)提(ti)(ti)高(gao)测(ce)试(shi)(shi)解决方案的(de)(de)(de)(de)真实性(xing)(xing)(xing)。增加验证(zheng)和(he)(he)(he)确(que)(que)(que)认步(bu)骤：在发(fa)现(xian)潜在缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)时，增加验证(zheng)和(he)(he)(he)确(que)(que)(que)认步(bu)骤，以(yi)(yi)(yi)排(pai)除假阳(yang)性(xing)(xing)(xing)结(jie)果(guo)(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)可(ke)(ke)能性(xing)(xing)(xing)。这(zhei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)包括(kuo)人工复核、重复测(ce)试(shi)(shi)、额(e)外的(de)(de)(de)(de)检(jian)测(ce)方法(fa)(fa)等(deng)，以(yi)(yi)(yi)确(que)(que)(que)保测(ce)试(shi)(shi)结(jie)果(guo)(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)准(zhun)(zhun)确(que)(que)(que)性(xing)(xing)(xing)和(he)(he)(he)可(ke)(ke)信度。建(jian)立参考库和(he)(he)(he)历史数(shu)据(ju)：建(jian)立一个参考库和(he)(he)(he)历史数(shu)据(ju)集，包括(kuo)正常产品和(he)(he)(he)已知缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)图(tu)像(xiang)和(he)(he)(he)特征数(shu)据(ju)。通(tong)过与参考库进行比对(dui)和(he)(he)(he)分析，可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)更准(zhun)(zhun)确(que)(que)(que)地(di)分类和(he)(he)(he)识别缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)，减(jian)(jian)少假阳(yang)性(xing)(xing)(xing)结(jie)果(guo)(guo)(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)出(chu)现(xian)。AOI光学(xue)检(jian)测(ce)器(qi)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)自动分析生产数(shu)据(ju)和(he)(he)(he)质量数(shu)据(ju)，为(wei)管理人员提(ti)(ti)供决策支持。成都视觉(jue)AOI光学(xue)检(jian)测(ce)设备(bei)用(yong)处

AOI光(guang)(guang)学检(jian)(jian)测技术在调试上相比人工检(jian)(jian)测能(neng)更简单，根据先前算(suan)法参数调整不(bu)断完善(shan)。浙江人工智(zhi)能(neng)AOI光(guang)(guang)学检(jian)(jian)测设备厂

AOI光(guang)(guang)学检测(ce)(ce)(ce)设备(bei)(bei)在电(dian)子(zi)元器(qi)件锡(xi)球(qiu)(qiu)缺(que)(que)陷(xian)测(ce)(ce)(ce)试上有普遍的(de)应用。电(dian)子(zi)元器(qi)件中，焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)（通常(chang)为(wei)锡(xi)球(qiu)(qiu)）的(de)连接(jie)(jie)(jie)(jie)质量对于(yu)电(dian)子(zi)设备(bei)(bei)的(de)可(ke)靠性至关重要。AOI光(guang)(guang)学检测(ce)(ce)(ce)设备(bei)(bei)可(ke)以(yi)(yi)(yi)通过采(cai)集和分析焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)的(de)图像来检测(ce)(ce)(ce)潜在的(de)缺(que)(que)陷(xian)和问(wen)题(ti)(ti)，包括以(yi)(yi)(yi)下几个(ge)方面(mian)：锡(xi)球(qiu)(qiu)位(wei)(wei)置(zhi)和尺(chi)寸：AOI设备(bei)(bei)可(ke)以(yi)(yi)(yi)准确(que)(que)测(ce)(ce)(ce)量焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)的(de)位(wei)(wei)置(zhi)和尺(chi)寸，检测(ce)(ce)(ce)是(shi)否存在错位(wei)(wei)、缺(que)(que)失(shi)或过大/过小的(de)问(wen)题(ti)(ti)。焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)外观缺(que)(que)陷(xian)：AOI设备(bei)(bei)可(ke)以(yi)(yi)(yi)检测(ce)(ce)(ce)焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)的(de)外观缺(que)(que)陷(xian)，如裂纹、变形、颜色(se)异常(chang)等，以(yi)(yi)(yi)确(que)(que)保焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)的(de)质量。焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)连结(jie)：AOI设备(bei)(bei)可(ke)以(yi)(yi)(yi)检测(ce)(ce)(ce)焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)之(zhi)间的(de)连结(jie)情况(kuang)，如间隔、缺(que)(que)失(shi)、过量熔融等，以(yi)(yi)(yi)确(que)(que)保焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)之(zhi)间的(de)良好连接(jie)(jie)(jie)(jie)。焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)位(wei)(wei)置(zhi)偏(pian)移(yi)：AOI设备(bei)(bei)可(ke)以(yi)(yi)(yi)检测(ce)(ce)(ce)焊(han)(han)接(jie)(jie)(jie)(jie)球(qiu)(qiu)位(wei)(wei)置(zhi)是(shi)否偏(pian)离了预定(ding)的(de)位(wei)(wei)置(zhi)，如位(wei)(wei)于(yu)焊(han)(han)盘外、偏(pian)移(yi)等情况(kuang)。浙(zhe)江人(ren)工智能AOI光(guang)(guang)学检测(ce)(ce)(ce)设备(bei)(bei)厂

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