AOI光学(xue)检(jian)(jian)测(ce)与人(ren)(ren)工(gong)视(shi)(shi)觉相(xiang)比具有一(yi)(yi)些优点。下(xia)(xia)面是一(yi)(yi)些常(chang)(chang)见的(de)(de)(de)比较：优点：自动化(hua)(hua)和(he)(he)(he)高(gao)(gao)效(xiao)率：AOI光学(xue)检(jian)(jian)测(ce)是自动化(hua)(hua)的(de)(de)(de)过程，利用计算(suan)机和(he)(he)(he)机器视(shi)(shi)觉技术对产品进行快(kuai)速(su)而准确的(de)(de)(de)检(jian)(jian)测(ce)。相(xiang)比之下(xia)(xia)，人(ren)(ren)工(gong)视(shi)(shi)觉需(xu)要(yao)(yao)人(ren)(ren)工(gong)操作员进行视(shi)(shi)觉检(jian)(jian)查，速(su)度较慢且(qie)容易受到主观(guan)因(yin)素(su)的(de)(de)(de)影(ying)响。一(yi)(yi)致(zhi)(zhi)性和(he)(he)(he)准确性：AOI光学(xue)检(jian)(jian)测(ce)系(xi)统(tong)使用相(xiang)同的(de)(de)(de)算(suan)法(fa)和(he)(he)(he)参数，在(zai)相(xiang)同的(de)(de)(de)条(tiao)件下(xia)(xia)对产品进行检(jian)(jian)测(ce)，可(ke)以实(shi)现一(yi)(yi)致(zhi)(zhi)性和(he)(he)(he)准确性。而人(ren)(ren)工(gong)视(shi)(shi)觉可(ke)能因(yin)为(wei)操作员的(de)(de)(de)主观(guan)判断(duan)、疲劳或其(qi)他因(yin)素(su)而导致(zhi)(zhi)结(jie)果的(de)(de)(de)变(bian)化(hua)(hua)。高(gao)(gao)速(su)和(he)(he)(he)大(da)规模处(chu)理(li)：AOI光学(xue)检(jian)(jian)测(ce)系(xi)统(tong)可(ke)以在(zai)短时间内(nei)处(chu)理(li)大(da)量的(de)(de)(de)产品，并实(shi)时提供检(jian)(jian)测(ce)结(jie)果。这对于(yu)大(da)规模生产环境非常(chang)(chang)重(zhong)要(yao)(yao)。而人(ren)(ren)工(gong)视(shi)(shi)觉可(ke)能无法(fa)满(man)足(zu)高(gao)(gao)速(su)和(he)(he)(he)大(da)规模处(chu)理(li)的(de)(de)(de)需(xu)求。缺陷(xian)(xian)检(jian)(jian)测(ce)能力：AOI光学(xue)检(jian)(jian)测(ce)系(xi)统(tong)通常(chang)(chang)可(ke)以检(jian)(jian)测(ce)微(wei)小的(de)(de)(de)和(he)(he)(he)难(nan)以察觉的(de)(de)(de)缺陷(xian)(xian)，因(yin)为(wei)它们利用高(gao)(gao)分(fen)辨率的(de)(de)(de)相(xiang)机和(he)(he)(he)精确的(de)(de)(de)图(tu)像(xiang)处(chu)理(li)算(suan)法(fa)。这对于(yu)一(yi)(yi)些细微(wei)缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)产品是非常(chang)(chang)重(zhong)要(yao)(yao)的(de)(de)(de)。AOI光学(xue)检(jian)(jian)测(ce)设备(bei)还可(ke)以联合(he)其(qi)他软、硬件设备(bei)，形(xing)成(cheng)集(ji)成(cheng)化(hua)(hua)检(jian)(jian)测(ce)系(xi)统(tong)。浙江视(shi)(shi)觉AOI光学(xue)检(jian)(jian)测(ce)设备(bei)卖(mai)家(jia)

选(xuan)(xuan)择(ze)适(shi)(shi)合的(de)(de)(de)(de)AOI光(guang)学检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)需(xu)要考(kao)虑(lv)以(yi)下几(ji)个方面(mian)：产(chan)品(pin)(pin)类(lei)型(xing)：不(bu)(bu)同(tong)(tong)类(lei)型(xing)的(de)(de)(de)(de)产(chan)品(pin)(pin)可(ke)(ke)(ke)能(neng)需(xu)要不(bu)(bu)同(tong)(tong)类(lei)型(xing)的(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)。例如，对于电路板和(he)(he)(he)SMT组件的(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)，通(tong)常可(ke)(ke)(ke)以(yi)选(xuan)(xuan)择(ze)表面(mian)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)；而(er)对于焊点和(he)(he)(he)元件的(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)，可(ke)(ke)(ke)能(neng)需(xu)要选(xuan)(xuan)择(ze)X射线(xian)或(huo)红外检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)。检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)要求：根据产(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)特定需(xu)求确定检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)的(de)(de)(de)(de)精(jing)度要求和(he)(he)(he)功能(neng)要求。例如，某(mou)些产(chan)品(pin)(pin)可(ke)(ke)(ke)能(neng)需(xu)要高分辨率的(de)(de)(de)(de)图(tu)像以(yi)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)微小的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷，而(er)其他产(chan)品(pin)(pin)可(ke)(ke)(ke)能(neng)需(xu)要高速的(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)速度。缺(que)陷类(lei)型(xing)：考(kao)虑(lv)待测(ce)(ce)试产(chan)品(pin)(pin)可(ke)(ke)(ke)能(neng)存在的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷类(lei)型(xing)。不(bu)(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)对不(bu)(bu)同(tong)(tong)类(lei)型(xing)的(de)(de)(de)(de)缺(que)陷有不(bu)(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)能(neng)力。某(mou)些系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)可(ke)(ke)(ke)能(neng)更适(shi)(shi)合检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)表面(mian)缺(que)陷，而(er)其他系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)可(ke)(ke)(ke)能(neng)更擅(shan)长检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)内部缺(que)陷或(huo)焊点质量。预算限(xian)制：考(kao)虑(lv)可(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)预算来选(xuan)(xuan)择(ze)合适(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)。不(bu)(bu)同(tong)(tong)类(lei)型(xing)的(de)(de)(de)(de)AOI光(guang)学检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)价(jia)(jia)格不(bu)(bu)同(tong)(tong)，因此需(xu)要考(kao)虑(lv)经济性(xing)和(he)(he)(he)性(xing)价(jia)(jia)比(bi)。可(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)资源和(he)(he)(he)技术(shu)(shu)支持：确认您的(de)(de)(de)(de)团队是否有足(zu)够的(de)(de)(de)(de)技术(shu)(shu)能(neng)力和(he)(he)(he)资源来支持所选(xuan)(xuan)择(ze)的(de)(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)系(xi)(xi)(xi)(xi)统(tong)(tong)(tong)。这包括人员培训、设(she)备维护(hu)和(he)(he)(he)技术(shu)(shu)支持。北京智能(neng)AOI光(guang)学检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)设(she)备代(dai)理AOI光(guang)学检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)设(she)备操作简单，方便操作员进行设(she)备维护(hu)和(he)(he)(he)保养。

AOI光学(xue)检(jian)测(ce)(ce)设备可(ke)以(yi)通(tong)过以(yi)下(xia)方式(shi)进(jin)(jin)(jin)行(xing)数据(ju)分(fen)(fen)析(xi)和(he)处(chu)理：缺(que)陷(xian)统计分(fen)(fen)析(xi)：通(tong)过对(dui)检(jian)测(ce)(ce)结(jie)果(guo)中的(de)(de)缺(que)陷(xian)进(jin)(jin)(jin)行(xing)统计分(fen)(fen)析(xi)，可(ke)以(yi)计算(suan)缺(que)陷(xian)的(de)(de)数量(liang)、类型和(he)位置(zhi)分(fen)(fen)布(bu)等信息(xi)。这有(you)(you)助于(yu)了解常(chang)(chang)见缺(que)陷(xian)模式(shi)，并(bing)针对(dui)性地采取措施改(gai)善(shan)生产(chan)(chan)过程(cheng)。趋势分(fen)(fen)析(xi)：通(tong)过比较不(bu)同时(shi)(shi)间段的(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)结(jie)果(guo)，可(ke)以(yi)研究(jiu)缺(que)陷(xian)的(de)(de)趋势和(he)变(bian)化。这有(you)(you)助于(yu)识别生产(chan)(chan)过程(cheng)中的(de)(de)潜(qian)在问题，并(bing)做出及时(shi)(shi)的(de)(de)调整和(he)改(gai)进(jin)(jin)(jin)。产(chan)(chan)品质量(liang)分(fen)(fen)析(xi)：将检(jian)测(ce)(ce)结(jie)果(guo)与产(chan)(chan)品规(gui)范和(he)标准进(jin)(jin)(jin)行(xing)比较，可(ke)以(yi)评估产(chan)(chan)品的(de)(de)质量(liang)水平。通(tong)过分(fen)(fen)析(xi)通(tong)过率(lv)(lv)、误报率(lv)(lv)和(he)缺(que)陷(xian)率(lv)(lv)等指标，可(ke)以(yi)衡量(liang)产(chan)(chan)品性能(neng)，并(bing)确定生产(chan)(chan)线(xian)中的(de)(de)瓶颈和(he)改(gai)善(shan)点。故障分(fen)(fen)析(xi)：对(dui)检(jian)测(ce)(ce)结(jie)果(guo)中的(de)(de)异常(chang)(chang)情况进(jin)(jin)(jin)行(xing)深入分(fen)(fen)析(xi)，可(ke)以(yi)识别设备故障或异常(chang)(chang)操作的(de)(de)原因。这有(you)(you)助于(yu)快速诊断问题并(bing)采取修复措施，以(yi)确保设备的(de)(de)正常(chang)(chang)运行(xing)。

AOI光(guang)学检测系统(tong)出现(xian)过(guo)(guo)度(du)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)不(bu)足(zu)(zu)(zu)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)有以下几(ji)个原因：参(can)数设置(zhi)不(bu)准(zhun)(zhun)确(que)(que)：AOI系统(tong)需要(yao)(yao)根据被检测元件(jian)(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)特(te)性(xing)进行适(shi)当(dang)的(de)(de)(de)(de)参(can)数设置(zhi)，如(ru)曝光(guang)时间、对(dui)比度(du)、灵(ling)敏度(du)等。如(ru)果(guo)这些(xie)参(can)数设置(zhi)不(bu)准(zhun)(zhun)确(que)(que)，就(jiu)会(hui)导(dao)(dao)致(zhi)过(guo)(guo)度(du)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)不(bu)足(zu)(zu)(zu)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)。光(guang)照条(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)问题：光(guang)照条(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)对(dui)于AOI系统(tong)的(de)(de)(de)(de)性(xing)能(neng)(neng)(neng)(neng)至(zhi)关重要(yao)(yao)。如(ru)果(guo)光(guang)源(yuan)的(de)(de)(de)(de)强度(du)、角度(du)或(huo)(huo)(huo)均匀性(xing)存在(zai)问题，就(jiu)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)导(dao)(dao)致(zhi)过(guo)(guo)度(du)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)不(bu)足(zu)(zu)(zu)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)。例如(ru)，光(guang)源(yuan)不(bu)均匀可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)导(dao)(dao)致(zhi)一些(xie)细小特(te)征的(de)(de)(de)(de)过(guo)(guo)度(du)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)忽略。元件(jian)(jian)(jian)(jian)表(biao)面反(fan)射性(xing)差异(yi)：不(bu)同(tong)(tong)材料的(de)(de)(de)(de)元件(jian)(jian)(jian)(jian)表(biao)面反(fan)射性(xing)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)会(hui)导(dao)(dao)致(zhi)光(guang)学检测的(de)(de)(de)(de)不(bu)准(zhun)(zhun)确(que)(que)性(xing)。一些(xie)材料可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)具(ju)有较(jiao)(jiao)高的(de)(de)(de)(de)反(fan)射率(lv)，而其他材料可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)具(ju)有较(jiao)(jiao)低(di)的(de)(de)(de)(de)反(fan)射率(lv)。如(ru)果(guo)AOI系统(tong)未能(neng)(neng)(neng)(neng)准(zhun)(zhun)确(que)(que)补偿这些(xie)差异(yi)，就(jiu)会(hui)出现(xian)过(guo)(guo)度(du)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)不(bu)足(zu)(zu)(zu)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)。视觉(jue)算法问题：AOI系统(tong)使用的(de)(de)(de)(de)视觉(jue)算法对(dui)于识别(bie)和修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)缺陷(xian)非(fei)常(chang)重要(yao)(yao)。不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)算法在(zai)处理不(bu)同(tong)(tong)类型的(de)(de)(de)(de)元件(jian)(jian)(jian)(jian)或(huo)(huo)(huo)缺陷(xian)时可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)表(biao)现(xian)不(bu)同(tong)(tong)。如(ru)果(guo)算法设计不(bu)当(dang)或(huo)(huo)(huo)不(bu)适(shi)应特(te)定的(de)(de)(de)(de)检测要(yao)(yao)求，就(jiu)可(ke)能(neng)(neng)(neng)(neng)导(dao)(dao)致(zhi)过(guo)(guo)度(du)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)或(huo)(huo)(huo)不(bu)足(zu)(zu)(zu)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)(zheng)(zheng)(zheng)。AOI光(guang)学检测技术中还可(ke)加入(ru)人(ren)工智能(neng)(neng)(neng)(neng)，车间数据智能(neng)(neng)(neng)(neng)化，提高电子产(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)制造效率(lv)和品(pin)质。

AOI光(guang)学(xue)(xue)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)设(she)备在电(dian)子制(zhi)造领域中具(ju)有(you)许多优(you)势，包(bao)括(kuo)(kuo)：高(gao)速(su)和(he)(he)高(gao)效：AOI设(she)备使用(yong)(yong)光(guang)学(xue)(xue)技(ji)术(shu)进行(xing)自动检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)，能(neng)(neng)够快速(su)扫描并检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)电(dian)子组(zu)件(jian)上的(de)缺陷(xian)，可(ke)大幅提高(gao)生产效率和(he)(he)产品质(zhi)(zhi)量(liang)。非接(jie)(jie)(jie)触式(shi)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)：AOI设(she)备采用(yong)(yong)非接(jie)(jie)(jie)触式(shi)光(guang)学(xue)(xue)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)技(ji)术(shu)，不会对被(bei)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)物体造成物理损害。与(yu)传统的(de)手工(gong)或机械(xie)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)方法相(xiang)比，非接(jie)(jie)(jie)触式(shi)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)可(ke)减(jian)少(shao)由于(yu)(yu)接(jie)(jie)(jie)触损伤组(zu)件(jian)的(de)风险。高(gao)精度(du)：AOI设(she)备具(ju)备高(gao)分辨率和(he)(he)精确度(du)，能(neng)(neng)够检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)微(wei)小的(de)缺陷(xian)、焊接(jie)(jie)(jie)问(wen)题、引脚偏移、短路(lu)(lu)等(deng)(deng)细微(wei)异常(chang)。多功能(neng)(neng)性(xing)：AOI设(she)备可(ke)应(ying)用(yong)(yong)于(yu)(yu)各种(zhong)电(dian)子产品制(zhi)造过(guo)程(cheng)中，包(bao)括(kuo)(kuo)PCB板、芯片、电(dian)子组(zu)件(jian)等(deng)(deng)的(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)。它可(ke)以检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)电(dian)路(lu)(lu)板上的(de)组(zu)件(jian)安装情况、焊接(jie)(jie)(jie)质(zhi)(zhi)量(liang)、引脚正确性(xing)等(deng)(deng)。自动化(hua)和(he)(he)一(yi)致性(xing)：AOI设(she)备可(ke)以实现(xian)自动化(hua)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)，消除了(le)人工(gong)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)主观性(xing)和(he)(he)人员(yuan)差异性(xing)，从而(er)提高(gao)了(le)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)结果的(de)一(yi)致性(xing)和(he)(he)可(ke)靠性(xing)。缺陷(xian)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)和(he)(he)分类(lei)：AOI设(she)备能(neng)(neng)够检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)和(he)(he)分类(lei)各种(zhong)类(lei)型的(de)缺陷(xian)，如短路(lu)(lu)、开路(lu)(lu)、连锡等(deng)(deng)，有(you)助于(yu)(yu)及(ji)时(shi)发现(xian)和(he)(he)纠正制(zhi)造过(guo)程(cheng)中的(de)问(wen)题，提高(gao)产品质(zhi)(zhi)量(liang)和(he)(he)可(ke)靠性(xing)。AOI光(guang)学(xue)(xue)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)技(ji)术(shu)应(ying)用(yong)(yong)非常(chang)普遍，包(bao)括(kuo)(kuo)电(dian)子、半导(dao)体、医疗等(deng)(deng)领域。南京一(yi)键(jian)编(bian)程(cheng)AOI光(guang)学(xue)(xue)检(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)设(she)备插(cha)件(jian)

AOI光学(xue)检测设(she)备采用双光源、三角形等多种扫描方式实现更(geng)加准确和高(gao)效的检测。浙江视(shi)觉(jue)AOI光学(xue)检测设(she)备卖家

AOI光学(xue)检测设(she)备可(ke)(ke)(ke)以采取以下方(fang)法来(lai)应对微(wei)(wei)型化(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)(jian)和(he)(he)(he)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)：高分(fen)辨率(lv)：微(wei)(wei)型化(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)(jian)和(he)(he)(he)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)通常(chang)(chang)(chang)具有非常(chang)(chang)(chang)小(xiao)的(de)(de)(de)尺寸(cun)和(he)(he)(he)高密(mi)度(du)(du)(du)的(de)(de)(de)器(qi)件(jian)(jian)(jian)，因此，AOI设(she)备需要具备高分(fen)辨率(lv)的(de)(de)(de)成像(xiang)能(neng)力，才能(neng)准确(que)地(di)检测和(he)(he)(he)分(fen)析这(zhei)些细(xi)小(xiao)的(de)(de)(de)结构。现代的(de)(de)(de)AOI设(she)备通常(chang)(chang)(chang)具有高分(fen)辨率(lv)的(de)(de)(de)图(tu)像(xiang)传感器(qi)和(he)(he)(he)先进(jin)的(de)(de)(de)光学(xue)系统，可(ke)(ke)(ke)以实(shi)现对微(wei)(wei)小(xiao)尺寸(cun)器(qi)件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)清(qing)晰(xi)成像(xiang)。多(duo)角(jiao)度(du)(du)(du)检测：一些微(wei)(wei)型化(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)(jian)和(he)(he)(he)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)的(de)(de)(de)特征(zheng)可(ke)(ke)(ke)能(neng)只能(neng)在特定角(jiao)度(du)(du)(du)下才能(neng)被正确(que)检测到(dao)。因此，AOI设(she)备可(ke)(ke)(ke)能(neng)具备多(duo)个(ge)(ge)角(jiao)度(du)(du)(du)的(de)(de)(de)观(guan)察能(neng)力，通过分(fen)析不(bu)同角(jiao)度(du)(du)(du)的(de)(de)(de)图(tu)像(xiang)来(lai)获取更多(duo)方(fang)面(mian)的(de)(de)(de)信息。这(zhei)样(yang)(yang)可(ke)(ke)(ke)以提高对微(wei)(wei)型化(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)(jian)和(he)(he)(he)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)的(de)(de)(de)检测准确(que)性。自(zi)(zi)动(dong)聚(ju)焦和(he)(he)(he)自(zi)(zi)动(dong)对焦：微(wei)(wei)型化(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)(jian)和(he)(he)(he)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)通常(chang)(chang)(chang)具有不(bu)同的(de)(de)(de)高度(du)(du)(du)和(he)(he)(he)复杂的(de)(de)(de)三维结构。为了在整个(ge)(ge)表(biao)面(mian)范围内进(jin)行准确(que)的(de)(de)(de)检测，AOI设(she)备通常(chang)(chang)(chang)配备自(zi)(zi)动(dong)聚(ju)焦和(he)(he)(he)自(zi)(zi)动(dong)对焦功能(neng)，以确(que)保不(bu)同区域都(dou)能(neng)够得到(dao)清(qing)晰(xi)的(de)(de)(de)图(tu)像(xiang)。这(zhei)样(yang)(yang)可(ke)(ke)(ke)以在不(bu)损(sun)失精度(du)(du)(du)的(de)(de)(de)情况下适应不(bu)同尺寸(cun)和(he)(he)(he)高度(du)(du)(du)的(de)(de)(de)微(wei)(wei)型化(hua)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)(jian)和(he)(he)(he)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)。浙江视觉(jue)AOI光学(xue)检测设(she)备卖(mai)家(jia)

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