AOI虽然具有(you)比人(ren)工(gong)(gong)检(jian)测更(geng)高的(de)(de)(de)效率，但毕竟是通过图像采(cai)集和(he)分(fen)(fen)析处(chu)(chu)理(li)来得(de)出结果(guo)，而图像分(fen)(fen)析处(chu)(chu)理(li)的(de)(de)(de)相关软件(jian)技术(shu)目前(qian)还没达到人(ren)脑的(de)(de)(de)级别(bie)，因此(ci)，在(zai)实际使用(yong)中的(de)(de)(de)一些(xie)特(te)殊情况，AOI的(de)(de)(de)误(wu)(wu)判(pan)(pan)(pan)(pan)(pan)、漏判(pan)(pan)(pan)(pan)(pan)在(zai)所难免(mian)。目前(qian)AOI使用(yong)中存(cun)在(zai)的(de)(de)(de)问(wen)题有(you)：（1）多(duo)锡(xi)、少锡(xi)、偏(pian)移、歪(wai)斜的(de)(de)(de)工(gong)(gong)艺(yi)要求标准界(jie)定不(bu)同，容易导致误(wu)(wu)判(pan)(pan)(pan)(pan)(pan)。（2）电(dian)容容值不(bu)同而规格大小和(he)颜色(se)相同，容易引起漏判(pan)(pan)(pan)(pan)(pan)。（3）字符处(chu)(chu)理(li)方(fang)式不(bu)同，引起的(de)(de)(de)极性判(pan)(pan)(pan)(pan)(pan)断准确(que)性差异较大。（4）大部分(fen)(fen)AOI对(dui)虚焊的(de)(de)(de)理(li)解发生歧义，造成漏判(pan)(pan)(pan)(pan)(pan)推(tui)诿。（5）存(cun)在(zai)屏蔽(bi)圈、屏蔽(bi)罩(zhao)遮蔽(bi)点的(de)(de)(de)检(jian)测问(wen)题。（6）BGA、FC等倒装(zhuang)元(yuan)件(jian)的(de)(de)(de)焊接质(zhi)量难以(yi)检(jian)测。（7）多(duo)数AOI编程(cheng)复杂、繁(fan)琐且调整时间长，不(bu)适合(he)科研单(dan)位、小型OEM厂、多(duo)规格小批量产品的(de)(de)(de)生产单(dan)位。（8）多(duo)数AOI产品检(jian)测速(su)度(du)较慢，有(you)少数采(cai)用(yong)扫描方(fang)法的(de)(de)(de)AOI速(su)度(du)较快，但误(wu)(wu)判(pan)(pan)(pan)(pan)(pan)、漏判(pan)(pan)(pan)(pan)(pan)率更(geng)高。AOI在(zai)SMT各工(gong)(gong)序(xu)的(de)(de)(de)应用(yong)在(zai)SMT中，AOI主(zhu)要应用(yong)于焊膏印刷检(jian)测、元(yuan)件(jian)检(jian)验、焊后组件(jian)检(jian)测。河源(yuan)直销SPI检(jian)测设(she)备(bei)价格行情

2.2解(jie)决相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)误差的(de)(de)新技术PMP技术中另一个主要(yao)的(de)(de)基础(chu)条(tiao)件(jian)就(jiu)是(shi)(shi)对于(yu)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)误差的(de)(de)控制。相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)法通(tong)过(guo)(guo)对投影光栅(zha)相(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)场进行移(yi)(yi)(yi)(yi)相(xiang)(xiang)(xiang)来增加若干常量相(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)而(er)得到(dao)多幅光栅(zha)图来求解(jie)相(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)场。由于(yu)多幅相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)图比单幅相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)图提(ti)供了更(geng)多的(de)(de)信息，所以可以得到(dao)更(geng)高(gao)精度的(de)(de)结果。传(chuan)统的(de)(de)方式都依靠(kao)机械移(yi)(yi)(yi)(yi)动来实(shi)现(xian)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)。为(wei)达到(dao)精确的(de)(de)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)，都使(shi)用了比较高(gao)精度的(de)(de)马达，如通(tong)过(guo)(guo)陶瓷压电马达（PZT），线(xian)性马达加光栅(zha)尺等方式。并通(tong)过(guo)(guo)大量的(de)(de)算法来减少相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)的(de)(de)误差。可编程结构(gou)光栅(zha)因(yin)为(wei)其正弦(xian)光栅(zha)是(shi)(shi)通(tong)过(guo)(guo)软件(jian)编程实(shi)现(xian)的(de)(de)，所以其在(zai)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)时也是(shi)(shi)通(tong)过(guo)(guo)软件(jian)来实(shi)现(xian)，通(tong)过(guo)(guo)此种技术可以使(shi)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)误差趋向于(yu)“0”，提(ti)高(gao)了量测精度。并且(qie)此技术不需要(yao)机械部件(jian)，减少了设(she)备的(de)(de)故障(zhang)几率，降低机械成本(ben)与维修成本(ben)。广(guang)东(dong)全自(zi)动SPI检测设(she)备技术参数检测误判的(de)(de)定义(yi)及存在(zai)原(yuan)困误判，欢(huan)迎了解(jie)详细情况。

PCBA工(gong)艺常见检测(ce)设备(bei)ATE检测(ce)：AutomaticTestEquipment集(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)路(lu)(IC)自动测(ce)试机，用(yong)于(yu)检测(ce)集(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)路(lu)功能之(zhi)完整(zheng)性，为集(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)路(lu)生产(chan)制造(zao)之(zhi)终流(liu)程(cheng)，以确保集(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)路(lu)生产(chan)制造(zao)之(zhi)品质。在(zai)所(suo)(suo)(suo)有(you)的(de)(de)(de)电(dian)(dian)子元器(qi)件(jian)(jian)(jian)(Device)的(de)(de)(de)制造(zao)工(gong)艺里面(mian)，存(cun)在(zai)着去伪(wei)存(cun)真的(de)(de)(de)需要(yao)(yao)，这(zhei)(zhei)种(zhong)(zhong)需要(yao)(yao)实际上是(shi)一个试验的(de)(de)(de)过(guo)程(cheng)。为了(le)实现(xian)这(zhei)(zhei)种(zhong)(zhong)过(guo)程(cheng)，就(jiu)需要(yao)(yao)各(ge)种(zhong)(zhong)试验设备(bei)，这(zhei)(zhei)类设备(bei)就(jiu)是(shi)所(suo)(suo)(suo)谓的(de)(de)(de)ATE(AutomaticTestEquipment)。这(zhei)(zhei)里所(suo)(suo)(suo)说的(de)(de)(de)电(dian)(dian)子元器(qi)件(jian)(jian)(jian)DUT(DeviceUnderTest)，当然包括(kuo)IC类别，此(ci)外，还包括(kuo)分(fen)立的(de)(de)(de)元件(jian)(jian)(jian)，器(qi)件(jian)(jian)(jian)。ATE存(cun)在(zai)于(yu)前道(dao)工(gong)序(xu)(FrontEnd)和(he)后道(dao)工(gong)序(xu)(BackEnd)的(de)(de)(de)各(ge)个环(huan)(huan)节，具体的(de)(de)(de)取决于(yu)工(gong)艺(Process)设计(ji)的(de)(de)(de)要(yao)(yao)求(qiu)。在(zai)元器(qi)件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)工(gong)艺流(liu)程(cheng)中(zhong)，根据(ju)工(gong)艺的(de)(de)(de)需要(yao)(yao)，存(cun)在(zai)着各(ge)种(zhong)(zhong)需要(yao)(yao)测(ce)试的(de)(de)(de)环(huan)(huan)节。目(mu)的(de)(de)(de)是(shi)为了(le)筛选残次品，防止(zhi)进入下(xia)一道(dao)的(de)(de)(de)工(gong)序(xu)，减少下(xia)一道(dao)工(gong)序(xu)中(zhong)的(de)(de)(de)冗(rong)余(yu)的(de)(de)(de)制造(zao)费用(yong)。这(zhei)(zhei)些环(huan)(huan)节需要(yao)(yao)通过(guo)各(ge)种(zhong)(zhong)物理(li)参(can)(can)数(shu)(shu)来把握，这(zhei)(zhei)些参(can)(can)数(shu)(shu)可以是(shi)现(xian)实物理(li)世界中(zhong)的(de)(de)(de)光(guang)，电(dian)(dian)，波(bo)，力学等(deng)各(ge)种(zhong)(zhong)参(can)(can)量(liang)，但是(shi)，目(mu)前大多数(shu)(shu)常见的(de)(de)(de)是(shi)电(dian)(dian)子信号(hao)的(de)(de)(de)居多。ATE设计(ji)工(gong)程(cheng)师们要(yao)(yao)考虑的(de)(de)(de)较多的(de)(de)(de)，还是(shi)电(dian)(dian)子部分(fen)的(de)(de)(de)参(can)(can)数(shu)(shu)比如，时间，相位(wei)，电(dian)(dian)压电(dian)(dian)流(liu)，等(deng)等(deng)基本的(de)(de)(de)物理(li)参(can)(can)数(shu)(shu)。就(jiu)是(shi)电(dian)(dian)子学所(suo)(suo)(suo)说的(de)(de)(de)，信号(hao)处理(li)。

结构光(guang)栅(zha)型SPIPMP又(you)称PSP(PhaseShiftProfilometry)技(ji)(ji)(ji)术(shu)是(shi)一种(zhong)基于(yu)正(zheng)(zheng)弦条纹(wen)投影和位相(xiang)(xiang)测(ce)量(liang)的(de)(de)(de)光(guang)学三(san)维(wei)面形测(ce)量(liang)技(ji)(ji)(ji)术(shu)。通(tong)过获取全(quan)场条纹(wen)的(de)(de)(de)空(kong)间信息(xi)(xi)与一个条纹(wen)周期内(nei)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)条纹(wen)的(de)(de)(de)时序信息(xi)(xi)，来完成物体三(san)维(wei)信息(xi)(xi)的(de)(de)(de)重(zhong)建。由于(yu)其具有(you)全(quan)场性、速度(du)快、高(gao)(gao)精(jing)度(du)、自动化程度(du)高(gao)(gao)等特点(dian)，这种(zhong)技(ji)(ji)(ji)术(shu)已在工业(ye)检测(ce)、机器视(shi)觉、逆向工程等领域(yu)获得广泛应用(yong)。目前大(da)部(bu)分的(de)(de)(de)在线SPI设备(bei)都(dou)已经升级到(dao)此种(zhong)技(ji)(ji)(ji)术(shu)。但(dan)是(shi)它采用(yong)的(de)(de)(de)离散相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)技(ji)(ji)(ji)术(shu)要求有(you)精(jing)确的(de)(de)(de)正(zheng)(zheng)弦结构光(guang)栅(zha)与精(jing)确的(de)(de)(de)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)，在实际系统(tong)中不可避(bi)免地存在着光(guang)栅(zha)图(tu)像的(de)(de)(de)非正(zheng)(zheng)弦化，相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)误差与随(sui)(sui)机误差，它将导(dao)致计算位相(xiang)(xiang)和重(zhong)建面形的(de)(de)(de)误差。虽然(ran)已经出现了不少(shao)算法能降(jiang)低(di)线性相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)误差，但(dan)要解决相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)过程中的(de)(de)(de)随(sui)(sui)机相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)误差问题，还存在一定(ding)的(de)(de)(de)困难。AOI检测(ce)设备(bei)的(de)(de)(de)作用(yong)有(you)哪些(xie)呢？

AOI的(de)(de)发展需(xu)(xu)求集(ji)成电(dian)路(lu)（IC）当然是(shi)(shi)(shi)现今人(ren)类(lei)工(gong)业制造(zao)出来(lai)结构较为(wei)精(jing)(jing)(jing)细的(de)(de)人(ren)造(zao)物(wu)(wu)之一，而除了以IC为(wei)主的(de)(de)半导体制造(zao)业，AOI亦(yi)在其(qi)他领域有(you)很重要(yao)的(de)(de)检(jian)测(ce)(ce)(ce)需(xu)(xu)求。①微(wei)型(xing)(xing)元件(jian)(jian)(jian)或(huo)结构的(de)(de)形(xing)貌以及(ji)关键尺(chi)寸量(liang)(liang)测(ce)(ce)(ce)，典型(xing)(xing)应(ying)用就(jiu)是(shi)(shi)(shi)集(ji)成电(dian)路(lu)、芯片(pian)的(de)(de)制造(zao)、封装等(deng)，既需(xu)(xu)要(yao)高精(jing)(jing)(jing)度又需(xu)(xu)要(yao)高效率的(de)(de)大(da)量(liang)(liang)检(jian)测(ce)(ce)(ce)②精(jing)(jing)(jing)密(mi)零(ling)件(jian)(jian)(jian)与制程(cheng)(cheng)的(de)(de)精(jing)(jing)(jing)密(mi)加工(gong)与检(jian)测(ce)(ce)(ce)，典型(xing)(xing)应(ying)用就(jiu)是(shi)(shi)(shi)针对工(gong)具机、航空航天器(qi)等(deng)高精(jing)(jing)(jing)度机械零(ling)件(jian)(jian)(jian)进行相关的(de)(de)粗糙度、表面形(xing)状等(deng)的(de)(de)量(liang)(liang)测(ce)(ce)(ce)，具有(you)高精(jing)(jing)(jing)度、量(liang)(liang)测(ce)(ce)(ce)条件(jian)(jian)(jian)多(duo)变等(deng)特点③生(sheng)物(wu)(wu)医(yi)学检(jian)测(ce)(ce)(ce)应(ying)用，典型(xing)(xing)应(ying)用就(jiu)是(shi)(shi)(shi)各式光(guang)学显(xian)微(wei)镜，结合相关程(cheng)(cheng)序(xu)编(bian)程(cheng)(cheng)、AI即可辅助判(pan)断(duan)(duan)相关的(de)(de)生(sheng)物(wu)(wu)、医(yi)学信息判(pan)断(duan)(duan)。④光(guang)学镜头或(huo)其(qi)他光(guang)学元件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)像差(cha)(cha)检(jian)测(ce)(ce)(ce)解决相移误(wu)差(cha)(cha)的(de)(de)新技术——PMP技术介绍。茂(mao)名多(duo)功(gong)能SPI检(jian)测(ce)(ce)(ce)设备维保

素材查看(kan) SMT锡膏的印(yin)刷(shua)是SMT制程中首道工(gong)序也是SMT生产工(gong)艺的重要环节，锡膏印(yin)刷(shua)质量直接影响焊接质量。河源直销SPI检测设(she)备价格行情

在(zai)(zai)线(xian)SPI设(she)(she)(she)备在(zai)(zai)实(shi)际应(ying)用(yong)中(zhong)出现的(de)(de)(de)一(yi)(yi)(yi)些问题(ti)(ti)目(mu)(mu)前大(da)部(bu)(bu)分的(de)(de)(de)SMT工厂(chang)都(dou)已(yi)(yi)经开(kai)始导入在(zai)(zai)线(xian)SPI设(she)(she)(she)备，但是在(zai)(zai)实(shi)际使用(yong)过(guo)程中(zhong)，效果也(ye)因(yin)各厂(chang)对其重(zhong)(zhong)(zhong)视程度而大(da)不(bu)(bu)一(yi)(yi)(yi)样。究其原因(yin)主要有(you)几下几点：品(pin)质重(zhong)(zhong)(zhong)视不(bu)(bu)够目(mu)(mu)前大(da)部(bu)(bu)分的(de)(de)(de)工厂(chang)（特别(bie)是代工厂(chang)）在(zai)(zai)产(chan)能的(de)(de)(de)管控上都(dou)非常(chang)的(de)(de)(de)严格(ge)。但是往(wang)(wang)往(wang)(wang)对品(pin)质方面(mian)重(zhong)(zhong)(zhong)视不(bu)(bu)够。当(dang)(dang)锡膏(gao)不(bu)(bu)能达到(dao)SPI设(she)(she)(she)备的(de)(de)(de)管控范围(wei)(wei)时(shi)，SPI一(yi)(yi)(yi)直会(hui)报(bao)警，没有(you)及时(shi)处理的(de)(de)(de)话会(hui)严重(zhong)(zhong)(zhong)影响产(chan)能。所(suo)以只要产(chan)线(xian)不(bu)(bu)出什(shen)么大(da)问题(ti)(ti)。都(dou)会(hui)把SPI的(de)(de)(de)管控参数(shu)范围(wei)(wei)设(she)(she)(she)大(da)，提高(gao)一(yi)(yi)(yi)次通过(guo)率(lv)(lv)，但是这样往(wang)(wang)往(wang)(wang)也(ye)会(hui)把真实(shi)的(de)(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)流(liu)到(dao)下一(yi)(yi)(yi)制程，提高(gao)维修成本。目(mu)(mu)前有(you)的(de)(de)(de)工厂(chang)已(yi)(yi)经在(zai)(zai)SPI后端接(jie)一(yi)(yi)(yi)个收(shou)板(ban)箱，当(dang)(dang)SPI测(ce)(ce)试(shi)OK的(de)(de)(de)时(shi)候(hou)直接(jie)流(liu)入下一(yi)(yi)(yi)工序，Fail的(de)(de)(de)时(shi)候(hou)会(hui)停留在(zai)(zai)收(shou)板(ban)箱里面(mian)。等作业人员来(lai)确认当(dang)(dang)前电(dian)路板(ban)的(de)(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)点位是否OK。一(yi)(yi)(yi)般SPI可以查询十片电(dian)路板(ban)的(de)(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)信息，如不(bu)(bu)良(liang)点位，不(bu)(bu)良(liang)图片等。也(ye)有(you)的(de)(de)(de)工厂(chang)已(yi)(yi)经开(kai)始把SPI与AOI相连接(jie)，通过(guo)AOI测(ce)(ce)试(shi)到(dao)的(de)(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)反馈给SPI来(lai)合理的(de)(de)(de)设(she)(she)(she)定测(ce)(ce)试(shi)范围(wei)(wei)与参数(shu)，来(lai)提高(gao)一(yi)(yi)(yi)次通过(guo)率(lv)(lv)，减少不(bu)(bu)良(liang)流(liu)入下一(yi)(yi)(yi)工序。河(he)源直销SPI检(jian)测(ce)(ce)设(she)(she)(she)备价格(ge)行情

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