离子(zi)迁(qian)移（ECM/SIR/CAF)的(de)(de)要因分析(xi)与解(jie)决方(fang)(fang)案(an)从设(she)(she)计方(fang)(fang)面：越(yue)小的(de)(de)距离（孔(kong)~孔(kong)、线~线、层(ceng)~层(ceng)、孔(kong)~线间）越(yue)易造(zao)成(cheng)(cheng)离子(zi)迁(qian)移现(xian)象；解(jie)决方(fang)(fang)案(an)：结合制(zhi)程(cheng)能(neng)力与材料能(neng)力，优化设(she)(she)计方(fang)(fang)案(an)；（当然重点还是必须符合客户(hu)要求）玻纤纱束与孔(kong)排列(lie)的(de)(de)方(fang)(fang)向；纱束与孔(kong)的(de)(de)方(fang)(fang)向一(yi)致(zhi)时，会(hui)造(zao)成(cheng)(cheng)离子(zi)迁(qian)移的(de)(de)可(ke)能(neng)性(xing)比(bi)较大；解(jie)决方(fang)(fang)案(an)：尽可(ke)能(neng)避免或(huo)减少(shao)纱束与孔(kong)排列(lie)一(yi)致(zhi)的(de)(de)可(ke)能(neng)性(xing)，但此(ci)项(xiang)受客户(hu)产品设(she)(she)计的(de)(de)制(zhi)约(yue)；产品的(de)(de)防湿保护(hu)设(she)(she)计；解(jie)决方(fang)(fang)案(an)：选(xuan)择(ze)比(bi)较好的(de)(de)防湿设(she)(she)计，如涉及海运，建议采用PE袋(dai)或(huo)铝箔(bo)袋(dai)包装方(fang)(fang)式；HAST测(ce)试(shi)(shi)是目前所(suo)有(you)半导体公司等行(xing)业对芯片等器(qi)件测(ce)试(shi)(shi)的(de)(de)标准(zhun)测(ce)试(shi)(shi)之一(yi)。贵(gui)州制(zhi)造(zao)电(dian)阻测(ce)试(shi)(shi)售(shou)后服务(wu)

一个的(de)(de)电阻(zu)测试设(she)备(bei)供(gong)(gong)应(ying)商(shang)应(ying)该(gai)提(ti)(ti)供(gong)(gong)及(ji)时的(de)(de)技术支持(chi)(chi)(chi)。当(dang)用(yong)户(hu)(hu)在使用(yong)设(she)备(bei)时遇到(dao)(dao)问(wen)题(ti)(ti)时，他(ta)们(men)应(ying)该(gai)能够及(ji)时联系到(dao)(dao)供(gong)(gong)应(ying)商(shang)的(de)(de)技术支持(chi)(chi)(chi)团(tuan)队。供(gong)(gong)应(ying)商(shang)的(de)(de)技术支持(chi)(chi)(chi)团(tuan)队应(ying)该(gai)由经验丰(feng)富的(de)(de)工程(cheng)师(shi)组成，能够快速诊断和解(jie)决问(wen)题(ti)(ti)。他(ta)们(men)可(ke)(ke)以通过电话、电子邮件或在线聊天(tian)等方式与(yu)用(yong)户(hu)(hu)进行(xing)沟通，帮助用(yong)户(hu)(hu)解(jie)决问(wen)题(ti)(ti)。还(hai)可(ke)(ke)以提(ti)(ti)供(gong)(gong)远(yuan)程(cheng)技术支持(chi)(chi)(chi)服务。通过远(yuan)程(cheng)技术支持(chi)(chi)(chi)，供(gong)(gong)应(ying)商(shang)的(de)(de)工程(cheng)师(shi)可(ke)(ke)以通过互联网远(yuan)程(cheng)连接(jie)到(dao)(dao)用(yong)户(hu)(hu)的(de)(de)设(she)备(bei)，进行(xing)故障诊断和修复(fu)。这种方式不仅(jin)可(ke)(ke)以节省用(yong)户(hu)(hu)的(de)(de)时间(jian)和成本，还(hai)可(ke)(ke)以提(ti)(ti)高故障排(pai)除的(de)(de)效率。当(dang)用(yong)户(hu)(hu)遇到(dao)(dao)问(wen)题(ti)(ti)时，他(ta)们(men)只(zhi)需(xu)要联系供(gong)(gong)应(ying)商(shang)的(de)(de)技术支持(chi)(chi)(chi)团(tuan)队，工程(cheng)师(shi)就(jiu)可(ke)(ke)以远(yuan)程(cheng)连接(jie)到(dao)(dao)设(she)备(bei)并进行(xing)故障排(pai)查。贵(gui)州制造电阻(zu)测试售(shou)后服务在所用(yong)的(de)(de)电子化学(xue)品(pin)中，容易被忽视的(de)(de)是焊剂。

4、在初始的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)绝缘电(dian)(dian)(dian)阻(zu)测(ce)量后(hou)关闭(bi)测(ce)试(shi)(shi)系统，使样品在65±2℃或85±2℃、相(xiang)对湿度为87+3/-2%RH、无偏(pian)压(ya)(ya)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)环境下(xia)静置96个(ge)小(xiao)(xiao)时(shi)（±30分钟）。96个(ge)小(xiao)(xiao)时(shi)（±30分钟）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)静置期(qi)后(hou)，在每(mei)个(ge)菊(ju)花链(lian)网络和地(di)(di)之间测(ce)试(shi)(shi)绝缘电(dian)(dian)(dian)阻(zu)。5、确认(ren)(ren)所(suo)有(you)(you)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)测(ce)试(shi)(shi)样品的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)连接是(shi)有(you)(you)效(xiao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，每(mei)个(ge)测(ce)试(shi)(shi)电(dian)(dian)(dian)路对应(ying)适当(dang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)限流电(dian)(dian)(dian)阻(zu)。然(ran)后(hou)将(jiang)测(ce)试(shi)(shi)板与(yu)电(dian)(dian)(dian)源相(xiang)连开始进行(xing)T/H/B部分的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)CAF测(ce)试(shi)(shi)。6、确认(ren)(ren)适当(dang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)偏(pian)置电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)已(yi)经被加(jia)载在样品上进行(xing)周期(qi)性测(ce)试(shi)(shi)。为了(le)比较(jiao)不(bu)同(tong)内层材料(liao)和制程的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)耐(nai)CAF性能，使用(yong)100V直流偏(pian)压(ya)(ya)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)标准CAF测(ce)试(shi)(shi)条(tiao)件(jian)。为了(le)确认(ren)(ren)测(ce)试(shi)(shi)结(jie)果与(yu)实(shi)际寿命之间的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)关系，第二个(ge)偏(pian)置电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)条(tiao)件(jian)需要选择给定的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)最高(gao)工(gong)作(zuo)电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)两倍。当(dang)一个(ge)较(jiao)小(xiao)(xiao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)偏(pian)置电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)不(bu)能有(you)(you)效(xiao)地(di)(di)区(qu)别更多不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)耐(nai)CAF材料(liao)和制程时(shi)，更高(gao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)偏(pian)置电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)由于会(hui)(hui)线(xian)性地(di)(di)影(ying)响失效(xiao)时(shi)间，应(ying)该被避(bi)免采用(yong)。这是(shi)因(yin)为过高(gao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)偏(pian)置电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)会(hui)(hui)抵消掉相(xiang)对湿度的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)影(ying)响，而相(xiang)对湿度由于局部加(jia)热的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)原因(yin)是(shi)非常重要的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)失效(xiao)机制部分。7、在96个(ge)小(xiao)(xiao)时(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)静置时(shi)间后(hou)，测(ce)试(shi)(shi)电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)和偏(pian)置电(dian)(dian)(dian)压(ya)(ya)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)极性必须(xu)是(shi)始终(zhong)一致的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)。

在进行离(li)子(zi)迁移(yi)绝(jue)(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)(dian)阻测(ce)(ce)试(shi)(shi)时(shi)，需(xu)要(yao)(yao)注意以(yi)下几点。首先，要(yao)(yao)选择合适的(de)测(ce)(ce)试(shi)(shi)设备和(he)(he)(he)方(fang)(fang)法，确保测(ce)(ce)试(shi)(shi)结果的(de)准(zhun)确性(xing)(xing)和(he)(he)(he)可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)。其次，要(yao)(yao)根据(ju)实际情况(kuang)确定(ding)测(ce)(ce)试(shi)(shi)的(de)参数和(he)(he)(he)条件，如(ru)湿度(du)、温度(du)、电(dian)(dian)(dian)压等。要(yao)(yao)及时(shi)记录和(he)(he)(he)分析测(ce)(ce)试(shi)(shi)结果，发现(xian)问(wen)题(ti)并采(cai)取相应的(de)措施(shi)进行修复(fu)或更换(huan)。离(li)子(zi)迁移(yi)绝(jue)(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)(dian)阻测(ce)(ce)试(shi)(shi)是(shi)一种重要(yao)(yao)的(de)电(dian)(dian)(dian)子(zi)产品(pin)质量检(jian)(jian)测(ce)(ce)方(fang)(fang)法。它(ta)通过测(ce)(ce)量离(li)子(zi)迁移(yi)速(su)率和(he)(he)(he)绝(jue)(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)(dian)阻值，来评估(gu)材料的(de)质量和(he)(he)(he)可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)。离(li)子(zi)迁移(yi)绝(jue)(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)(dian)阻测(ce)(ce)试(shi)(shi)广(guang)泛(fan)应用于(yu)电(dian)(dian)(dian)子(zi)产品(pin)制(zhi)造和(he)(he)(he)质量控制(zhi)过程(cheng)中，可(ke)(ke)以(yi)帮助检(jian)(jian)测(ce)(ce)材料的(de)离(li)子(zi)迁移(yi)问(wen)题(ti)和(he)(he)(he)绝(jue)(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)(dian)阻异常，从而(er)确保电(dian)(dian)(dian)子(zi)产品(pin)的(de)质量和(he)(he)(he)可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)。表面绝(jue)(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)(dian)阻（SIR）测(ce)(ce)试(shi)(shi)是(shi)通过在高(gao)温高(gao)湿的(de)环境中持续给予PCB一定(ding)的(de)偏(pian)压，经过长时(shi)间(jian)的(de)试(shi)(shi)验。

一般我们使用(yong)(yong)这(zhei)个方(fang)法来(lai)(lai)(lai)量测(ce)(ce)静态(tai)的(de)(de)表面(mian)绝(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)阻(zu)(SIR)与(yu)动态(tai)的(de)(de)离(li)(li)(li)子迁移现(xian)象(ION MIGRATION)，另外，它也(ye)可(ke)以拿来(lai)(lai)(lai)作 CAF(Conductive Anodic *ment，导电(dian)(dian)性(xing)(xing)细丝物(wu)，阳(yang)极性(xing)(xing)玻纤(xian)纤(xian)维(wei)之漏电(dian)(dian)现(xian)象)试(shi)验。 注：CAF主要在(zai)测(ce)(ce)试(shi)助焊剂对(dui)PCB板吸湿性(xing)(xing)及(ji)玻璃(li)纤(xian)维(wei)表面(mian)分离(li)(li)(li)的(de)(de)影响(xiang)。 表面(mian)绝(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)阻(zu)(SIR)被(bei)用(yong)(yong)来(lai)(lai)(lai)评(ping)估污(wu)(wu)染物(wu)对(dui)组(zu)装(zhuang)件(jian)可(ke)靠(kao)度的(de)(de)影响(xiang)。跟其(qi)他方(fang)法相比，SIR的(de)(de)优点(dian)除了可(ke)侦测(ce)(ce)局部的(de)(de)污(wu)(wu)染外，也(ye)可(ke)以测(ce)(ce)得离(li)(li)(li)子及(ji)非离(li)(li)(li)子污(wu)(wu)染物(wu)对(dui)印刷(shua)电(dian)(dian)路板(PCB)可(ke)靠(kao)度的(de)(de)影响(xiang)，其(qi)效果远比其(qi)他方(fang)法(如清洁度试(shi)验、铬酸银试(shi)验…等)来(lai)(lai)(lai)的(de)(de)有(you)效及(ji)方(fang)便(bian)。 由于(yu)电(dian)(dian)路板布线越(yue)(yue)来(lai)(lai)(lai)越(yue)(yue)密，焊点(dian)与(yu)焊点(dian)也(ye)越(yue)(yue)来(lai)(lai)(lai)越(yue)(yue)近(jin)，所以这(zhei)项实验也(ye)可(ke)作为锡膏助焊剂的(de)(de)可(ke)用(yong)(yong)性(xing)(xing)评(ping)估参考。电(dian)(dian)阻(zu)测(ce)(ce)试(shi)设备对(dui)使用(yong)(yong)技巧(qiao)有(you)较(jiao)高(gao)要求。江西供应电(dian)(dian)阻(zu)测(ce)(ce)试(shi)销(xiao)售厂家

选(xuan)择智(zhi)能电阻时(shi)，用(yong)户需要(yao)根据具体需求考虑精度、稳定性、接口等因(yin)素，以便(bian)选(xuan)择适(shi)合的智(zhi)能电阻产品。贵州(zhou)制造(zao)电阻测(ce)试售后(hou)服务

PCB/PCBA绝(jue)(jue)缘(yuan)失(shi)效是(shi)指(zhi)电(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)质(zhi)在(zai)电(dian)(dian)(dian)压作用下(xia)会产生能(neng)(neng)(neng)量损(sun)(sun)耗(hao)(hao)(hao)，这种损(sun)(sun)耗(hao)(hao)(hao)很大时(shi)，原先的(de)(de)(de)电(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)(neng)转化(hua)为热能(neng)(neng)(neng)，使电(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)质(zhi)温度升高，绝(jue)(jue)缘(yuan)老化(hua)，甚至(zhi)使电(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)质(zhi)熔化(hua)、烧焦，**终丧(sang)失(shi)绝(jue)(jue)缘(yuan)性能(neng)(neng)(neng)而发生热击(ji)穿(chuan)。电(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)质(zhi)的(de)(de)(de)损(sun)(sun)耗(hao)(hao)(hao)是(shi)衡量其(qi)绝(jue)(jue)缘(yuan)性能(neng)(neng)(neng)的(de)(de)(de)重要指(zhi)标(biao)，电(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)质(zhi)即绝(jue)(jue)缘(yuan)材料(liao)，是(shi)电(dian)(dian)(dian)气设(she)备(bei)、装置中用来隔离(li)存在(zai)不同(tong)点位(wei)的(de)(de)(de)导体的(de)(de)(de)物质(zhi)，通过各(ge)类导体间的(de)(de)(de)绝(jue)(jue)缘(yuan)隔断功(gong)能(neng)(neng)(neng)控制电(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)(de)方向。电(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)质(zhi)长期(qi)受到(dao)点场(chang)、热能(neng)(neng)(neng)、机(ji)械应力等(deng)的(de)(de)(de)破坏。在(zai)电(dian)(dian)(dian)场(chang)的(de)(de)(de)作用下(xia)，电(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)(jie)质(zhi)会发生极化(hua)、电(dian)(dian)(dian)导、耗(hao)(hao)(hao)损(sun)(sun)和(he)击(ji)穿(chuan)等(deng)现象，这些现象的(de)(de)(de)相关物理参(can)数可以(yi)用相对(dui)介(jie)(jie)(jie)电(dian)(dian)(dian)系数、电(dian)(dian)(dian)导率、介(jie)(jie)(jie)质(zhi)损(sun)(sun)耗(hao)(hao)(hao)因数、击(ji)穿(chuan)电(dian)(dian)(dian)压来表征。贵州制造电(dian)(dian)(dian)阻(zu)测试售后服(fu)务

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