AOI虽然具有比(bi)人工(gong)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)更高的(de)效(xiao)率(lv)，但(dan)毕(bi)竟是通(tong)过(guo)图像采(cai)集(ji)和分析处(chu)理来得出结(jie)果，而图像分析处(chu)理的(de)相关(guan)软(ruan)件技术目(mu)前还(hai)没达到(dao)人脑的(de)级别(bie)，因此，在(zai)(zai)(zai)(zai)实际(ji)使用(yong)中的(de)一些特殊情况，AOI的(de)误判(pan)(pan)、漏判(pan)(pan)在(zai)(zai)(zai)(zai)所难(nan)免。目(mu)前AOI使用(yong)中存(cun)在(zai)(zai)(zai)(zai)的(de)问题有：（1）多(duo)(duo)锡、少锡、偏移、歪斜的(de)工(gong)艺要(yao)求标准界定不(bu)同，容易导(dao)致(zhi)误判(pan)(pan)。（2）电容容值不(bu)同而规格大小和颜色相同，容易引起漏判(pan)(pan)。（3）字符(fu)处(chu)理方(fang)式不(bu)同，引起的(de)极性判(pan)(pan)断(duan)准确性差异较(jiao)大。（4）大部(bu)分AOI对虚焊的(de)理解发生歧义，造(zao)成漏判(pan)(pan)推(tui)诿。（5）存(cun)在(zai)(zai)(zai)(zai)屏蔽(bi)圈、屏蔽(bi)罩遮蔽(bi)点(dian)的(de)检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)问题。（6）BGA、FC等倒装元件的(de)焊接质量难(nan)以检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)。（7）多(duo)(duo)数AOI编程复杂、繁琐且调整时间长，不(bu)适合(he)科(ke)研单位(wei)、小型(xing)OEM厂、多(duo)(duo)规格小批量产品的(de)生产单位(wei)。（8）多(duo)(duo)数AOI产品检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)速度较(jiao)慢，有少数采(cai)用(yong)扫描方(fang)法的(de)AOI速度较(jiao)快，但(dan)误判(pan)(pan)、漏判(pan)(pan)率(lv)更高。AOI在(zai)(zai)(zai)(zai)SMT各工(gong)序的(de)应(ying)用(yong)在(zai)(zai)(zai)(zai)SMT中，AOI主要(yao)应(ying)用(yong)于(yu)焊膏印刷检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)、元件检(jian)(jian)(jian)验、焊后组件检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)。河源直(zhi)销SPI检(jian)(jian)(jian)测(ce)(ce)设备价格行情

2.2解决相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)误(wu)(wu)差的(de)(de)(de)(de)(de)(de)新技术PMP技术中(zhong)另一个主(zhu)要的(de)(de)(de)(de)(de)(de)基础条件(jian)就是对于(yu)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)误(wu)(wu)差的(de)(de)(de)(de)(de)(de)控(kong)制。相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)法通(tong)过(guo)对投影(ying)光(guang)栅(zha)(zha)相(xiang)(xiang)位(wei)(wei)场(chang)进行移(yi)(yi)(yi)(yi)相(xiang)(xiang)来(lai)(lai)增加若干常(chang)量相(xiang)(xiang)位(wei)(wei)而得到(dao)(dao)多(duo)(duo)幅(fu)光(guang)栅(zha)(zha)图来(lai)(lai)求解相(xiang)(xiang)位(wei)(wei)场(chang)。由于(yu)多(duo)(duo)幅(fu)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)图比(bi)单幅(fu)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)图提供了(le)(le)更多(duo)(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)息(xi)，所(suo)以(yi)可以(yi)得到(dao)(dao)更高(gao)(gao)(gao)精(jing)(jing)度(du)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)结果。传统的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)式都依靠(kao)机(ji)械移(yi)(yi)(yi)(yi)动来(lai)(lai)实(shi)现(xian)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)。为达(da)(da)到(dao)(dao)精(jing)(jing)确的(de)(de)(de)(de)(de)(de)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)，都使用了(le)(le)比(bi)较(jiao)高(gao)(gao)(gao)精(jing)(jing)度(du)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)马(ma)达(da)(da)，如通(tong)过(guo)陶瓷压电马(ma)达(da)(da)（PZT），线性马(ma)达(da)(da)加光(guang)栅(zha)(zha)尺等方(fang)(fang)式。并通(tong)过(guo)大量的(de)(de)(de)(de)(de)(de)算法来(lai)(lai)减少(shao)(shao)相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)误(wu)(wu)差。可编程(cheng)结构光(guang)栅(zha)(zha)因(yin)为其正弦光(guang)栅(zha)(zha)是通(tong)过(guo)软件(jian)编程(cheng)实(shi)现(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，所(suo)以(yi)其在相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)时也是通(tong)过(guo)软件(jian)来(lai)(lai)实(shi)现(xian)，通(tong)过(guo)此种(zhong)技术可以(yi)使相(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)(yi)误(wu)(wu)差趋向于(yu)“0”，提高(gao)(gao)(gao)了(le)(le)量测精(jing)(jing)度(du)。并且此技术不需(xu)要机(ji)械部件(jian)，减少(shao)(shao)了(le)(le)设备的(de)(de)(de)(de)(de)(de)故障几率，降低(di)机(ji)械成(cheng)本(ben)(ben)与维修成(cheng)本(ben)(ben)。广东全(quan)自动SPI检测设备技术参数检测误(wu)(wu)判的(de)(de)(de)(de)(de)(de)定义及存在原困误(wu)(wu)判，欢迎了(le)(le)解详细(xi)情况。

PCBA工(gong)(gong)艺(yi)(yi)(yi)常见检测(ce)设(she)备ATE检测(ce)：AutomaticTestEquipment集成电(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(IC)自(zi)动测(ce)试(shi)(shi)机，用于检测(ce)集成电(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)功(gong)能之(zhi)完整性，为集成电(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)生(sheng)产制(zhi)(zhi)造(zao)之(zhi)终(zhong)流程(cheng)(cheng)，以确(que)保集成电(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)生(sheng)产制(zhi)(zhi)造(zao)之(zhi)品质。在(zai)所有的(de)(de)(de)(de)(de)(de)电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)元器件(jian)(Device)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)制(zhi)(zhi)造(zao)工(gong)(gong)艺(yi)(yi)(yi)里面，存在(zai)着(zhe)去伪存真的(de)(de)(de)(de)(de)(de)需要(yao)(yao)(yao)，这(zhei)种(zhong)(zhong)需要(yao)(yao)(yao)实际上是(shi)(shi)(shi)一(yi)个试(shi)(shi)验的(de)(de)(de)(de)(de)(de)过(guo)程(cheng)(cheng)。为了(le)实现(xian)这(zhei)种(zhong)(zhong)过(guo)程(cheng)(cheng)，就(jiu)需要(yao)(yao)(yao)各(ge)种(zhong)(zhong)试(shi)(shi)验设(she)备，这(zhei)类(lei)设(she)备就(jiu)是(shi)(shi)(shi)所谓的(de)(de)(de)(de)(de)(de)ATE(AutomaticTestEquipment)。这(zhei)里所说(shuo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)元器件(jian)DUT(DeviceUnderTest)，当然包(bao)括IC类(lei)别，此外，还包(bao)括分(fen)(fen)立的(de)(de)(de)(de)(de)(de)元件(jian)，器件(jian)。ATE存在(zai)于前道(dao)(dao)工(gong)(gong)序(xu)(FrontEnd)和后道(dao)(dao)工(gong)(gong)序(xu)(BackEnd)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)各(ge)个环(huan)节(jie)，具(ju)体(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)取(qu)决于工(gong)(gong)艺(yi)(yi)(yi)(Process)设(she)计的(de)(de)(de)(de)(de)(de)要(yao)(yao)(yao)求。在(zai)元器件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)艺(yi)(yi)(yi)流程(cheng)(cheng)中(zhong)，根据工(gong)(gong)艺(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)需要(yao)(yao)(yao)，存在(zai)着(zhe)各(ge)种(zhong)(zhong)需要(yao)(yao)(yao)测(ce)试(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)环(huan)节(jie)。目(mu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)(shi)为了(le)筛(shai)选残次品，防止进入下一(yi)道(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)序(xu)，减(jian)少下一(yi)道(dao)(dao)工(gong)(gong)序(xu)中(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)冗余的(de)(de)(de)(de)(de)(de)制(zhi)(zhi)造(zao)费(fei)用。这(zhei)些环(huan)节(jie)需要(yao)(yao)(yao)通过(guo)各(ge)种(zhong)(zhong)物(wu)(wu)(wu)理(li)参(can)数来把(ba)握，这(zhei)些参(can)数可(ke)以是(shi)(shi)(shi)现(xian)实物(wu)(wu)(wu)理(li)世界中(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)，电(dian)(dian)(dian)(dian)，波(bo)，力(li)学等(deng)各(ge)种(zhong)(zhong)参(can)量(liang)，但是(shi)(shi)(shi)，目(mu)前大多数常见的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)(shi)电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)信号的(de)(de)(de)(de)(de)(de)居多。ATE设(she)计工(gong)(gong)程(cheng)(cheng)师们(men)要(yao)(yao)(yao)考虑的(de)(de)(de)(de)(de)(de)较多的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，还是(shi)(shi)(shi)电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)部分(fen)(fen)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)参(can)数比如，时(shi)间(jian)，相位，电(dian)(dian)(dian)(dian)压电(dian)(dian)(dian)(dian)流，等(deng)等(deng)基本的(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)(wu)理(li)参(can)数。就(jiu)是(shi)(shi)(shi)电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)学所说(shuo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，信号处理(li)。

结构(gou)光栅型SPIPMP又称PSP(PhaseShiftProfilometry)技术(shu)是一种(zhong)基于正(zheng)弦(xian)(xian)条(tiao)纹(wen)投影(ying)和位(wei)相测量的(de)(de)光学三维(wei)(wei)面形(xing)测量技术(shu)。通过获取(qu)全(quan)场(chang)条(tiao)纹(wen)的(de)(de)空间信(xin)息(xi)(xi)与一个条(tiao)纹(wen)周期内相移(yi)(yi)条(tiao)纹(wen)的(de)(de)时序信(xin)息(xi)(xi)，来完成物体三维(wei)(wei)信(xin)息(xi)(xi)的(de)(de)重建。由于其(qi)具有(you)(you)(you)全(quan)场(chang)性、速度快、高(gao)精(jing)度、自(zi)动(dong)化程度高(gao)等(deng)特点，这种(zhong)技术(shu)已在(zai)工(gong)业(ye)检测、机器视觉、逆向(xiang)工(gong)程等(deng)领域获得广(guang)泛应用。目前大部分的(de)(de)在(zai)线SPI设(she)备(bei)都已经升级到此种(zhong)技术(shu)。但是它采用的(de)(de)离散相移(yi)(yi)技术(shu)要(yao)求有(you)(you)(you)精(jing)确的(de)(de)正(zheng)弦(xian)(xian)结构(gou)光栅与精(jing)确的(de)(de)相移(yi)(yi)，在(zai)实(shi)际系统中不(bu)可(ke)避免地存在(zai)着光栅图像的(de)(de)非正(zheng)弦(xian)(xian)化，相移(yi)(yi)误(wu)(wu)差(cha)(cha)与随机误(wu)(wu)差(cha)(cha)，它将(jiang)导致计(ji)算位(wei)相和重建面形(xing)的(de)(de)误(wu)(wu)差(cha)(cha)。虽(sui)然已经出现了不(bu)少(shao)算法能(neng)降低线性相移(yi)(yi)误(wu)(wu)差(cha)(cha)，但要(yao)解(jie)决相移(yi)(yi)过程中的(de)(de)随机相移(yi)(yi)误(wu)(wu)差(cha)(cha)问题(ti)，还(hai)存在(zai)一定的(de)(de)困难。AOI检测设(she)备(bei)的(de)(de)作用有(you)(you)(you)哪些呢？

AOI的(de)(de)发展需求(qiu)集(ji)成(cheng)电路(lu)（IC）当然是(shi)现今人(ren)类工(gong)(gong)业制造出来结(jie)(jie)构较为(wei)(wei)精(jing)细的(de)(de)人(ren)造物之一，而除了以IC为(wei)(wei)主的(de)(de)半(ban)导体制造业，AOI亦在(zai)其他领域有(you)(you)很(hen)重(zhong)要的(de)(de)检测(ce)需求(qiu)。①微型(xing)元件(jian)或(huo)(huo)结(jie)(jie)构的(de)(de)形貌以及关键尺寸(cun)量测(ce)，典(dian)型(xing)应用就是(shi)集(ji)成(cheng)电路(lu)、芯片的(de)(de)制造、封装(zhuang)等(deng)，既需要高精(jing)度(du)又需要高效(xiao)率的(de)(de)大(da)量检测(ce)②精(jing)密(mi)零(ling)件(jian)与(yu)制程的(de)(de)精(jing)密(mi)加工(gong)(gong)与(yu)检测(ce)，典(dian)型(xing)应用就是(shi)针对工(gong)(gong)具机、航空航天器等(deng)高精(jing)度(du)机械(xie)零(ling)件(jian)进行相(xiang)(xiang)关的(de)(de)粗糙度(du)、表面形状等(deng)的(de)(de)量测(ce)，具有(you)(you)高精(jing)度(du)、量测(ce)条(tiao)件(jian)多变等(deng)特点③生物医学(xue)检测(ce)应用，典(dian)型(xing)应用就是(shi)各式(shi)光(guang)学(xue)显微镜，结(jie)(jie)合相(xiang)(xiang)关程序编程、AI即(ji)可辅助(zhu)判断(duan)相(xiang)(xiang)关的(de)(de)生物、医学(xue)信(xin)息判断(duan)。④光(guang)学(xue)镜头或(huo)(huo)其他光(guang)学(xue)元件(jian)的(de)(de)像(xiang)差(cha)检测(ce)解决相(xiang)(xiang)移误差(cha)的(de)(de)新技术——PMP技术介绍。茂名多功能SPI检测(ce)设备维保

素材查看 SMT锡膏(gao)的印刷是SMT制程中首道(dao)工序(xu)也是SMT生产工艺的重要环节，锡膏(gao)印刷质量直接(jie)影响焊(han)接(jie)质量。河源直销SPI检测(ce)设备(bei)价格(ge)行情

在线(xian)SPI设(she)(she)(she)备(bei)在实(shi)际(ji)应用(yong)中(zhong)出现的(de)(de)(de)(de)一(yi)(yi)些问(wen)题目前(qian)大(da)(da)部(bu)分的(de)(de)(de)(de)SMT工(gong)厂(chang)都已经(jing)开始导入在线(xian)SPI设(she)(she)(she)备(bei)，但是(shi)(shi)在实(shi)际(ji)使用(yong)过程(cheng)中(zhong)，效果也(ye)(ye)因各厂(chang)对(dui)其重(zhong)视(shi)程(cheng)度(du)而(er)大(da)(da)不(bu)(bu)(bu)一(yi)(yi)样。究其原因主要有几(ji)下几(ji)点(dian)：品(pin)(pin)质重(zhong)视(shi)不(bu)(bu)(bu)够目前(qian)大(da)(da)部(bu)分的(de)(de)(de)(de)工(gong)厂(chang)（特别(bie)是(shi)(shi)代工(gong)厂(chang)）在产能的(de)(de)(de)(de)管(guan)(guan)控上都非(fei)常的(de)(de)(de)(de)严格。但是(shi)(shi)往(wang)往(wang)对(dui)品(pin)(pin)质方面(mian)重(zhong)视(shi)不(bu)(bu)(bu)够。当锡膏不(bu)(bu)(bu)能达(da)到SPI设(she)(she)(she)备(bei)的(de)(de)(de)(de)管(guan)(guan)控范围(wei)时(shi)，SPI一(yi)(yi)直(zhi)会(hui)报警，没有及时(shi)处(chu)理的(de)(de)(de)(de)话会(hui)严重(zhong)影响产能。所以只(zhi)要产线(xian)不(bu)(bu)(bu)出什么大(da)(da)问(wen)题。都会(hui)把SPI的(de)(de)(de)(de)管(guan)(guan)控参(can)数范围(wei)设(she)(she)(she)大(da)(da)，提(ti)高一(yi)(yi)次通(tong)过率，但是(shi)(shi)这(zhei)样往(wang)往(wang)也(ye)(ye)会(hui)把真实(shi)的(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)(bu)良流到下一(yi)(yi)制(zhi)程(cheng)，提(ti)高维(wei)修成本(ben)。目前(qian)有的(de)(de)(de)(de)工(gong)厂(chang)已经(jing)在SPI后端接(jie)一(yi)(yi)个收板箱，当SPI测试OK的(de)(de)(de)(de)时(shi)候(hou)直(zhi)接(jie)流入下一(yi)(yi)工(gong)序，Fail的(de)(de)(de)(de)时(shi)候(hou)会(hui)停(ting)留在收板箱里面(mian)。等(deng)(deng)作(zuo)业人员来(lai)确认当前(qian)电(dian)路板的(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)(bu)良点(dian)位(wei)是(shi)(shi)否OK。一(yi)(yi)般SPI可(ke)以查(cha)询(xun)十片(pian)电(dian)路板的(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)(bu)良信息，如(ru)不(bu)(bu)(bu)良点(dian)位(wei)，不(bu)(bu)(bu)良图片(pian)等(deng)(deng)。也(ye)(ye)有的(de)(de)(de)(de)工(gong)厂(chang)已经(jing)开始把SPI与(yu)AOI相连(lian)接(jie)，通(tong)过AOI测试到的(de)(de)(de)(de)不(bu)(bu)(bu)良反(fan)馈给SPI来(lai)合理的(de)(de)(de)(de)设(she)(she)(she)定(ding)测试范围(wei)与(yu)参(can)数，来(lai)提(ti)高一(yi)(yi)次通(tong)过率，减少不(bu)(bu)(bu)良流入下一(yi)(yi)工(gong)序。河源直(zhi)销(xiao)SPI检测设(she)(she)(she)备(bei)价格行情

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