随着(zhe)(zhe)现(xian)代(dai)科技发展(zhan)加快，我(wo)国检(jian)测设(she)(she)备(bei)已逐步走向自动化。2DAOI和3D-AOI技术区别在于，2DAOI只能(neng)检(jian)查缺陷(xian)，3D-AOI完全不(bu)同，3DAOI技术是通过测量(liang)尺(chi)寸高度来判断缺陷(xian)。用(yong)3DAOI可以(yi)(yi)测量(liang)元件高度，根据(ju)(ju)该高度设(she)(she)置(zhi)公(gong)差,超出这(zhei)个公(gong)差意味着(zhe)(zhe)有(you)缺陷(xian)，在公(gong)差范围之内则是合(he)格。所以(yi)(yi),我(wo)们(men)有(you)不(bu)合(he)格产品的测量(liang)数据(ju)(ju)，这(zhei)是3DAOI的关键(jian)优势。我(wo)们(men)可以(yi)(yi)利(li)用(yong)这(zhei)些测量(liang)数据(ju)(ju)。优化和改进工艺，从而达到(dao)非常低误报(bao)的检(jian)测力(li)。3DAOI技术在现(xian)代(dai)社(she)会(hui)中(zhong)也普遍(bian)被(bei)使用(yong)。3DAOI通过3D高度信(xin)息让编程(cheng)更加简单(dan)方便，编程(cheng)时间大(da)程(cheng)度缩(suo)短，节省限现(xian)场工程(cheng)师(shi)的负担，降低人工成本(ben)。常州(zhou)光学检(jian)测3DAOIi能(neng)检(jian)验出虚(xu)焊吗

3D AOI是新兴的(de)(de)测(ce)试(shi)技术，但发展(zhan)迅速(su)。许(xu)多(duo)制造商已经引入了(le)AOI测(ce)试(shi)设备。3D AOI能(neng)够精确检查和测(ce)量PCB上(shang)器件的(de)(de)高度(du)尺寸，并(bing)提供(gong)清(qing)晰的(de)(de)IC和各种器件的(de)(de)侧(ce)视(shi)图(tu)图(tu)像(xiang)。当自(zi)(zi)动(dong)(dong)检测(ce)到时，机(ji)器会通(tong)过(guo)相机(ji)自(zi)(zi)动(dong)(dong)扫描PCB，收集图(tu)像(xiang)，并(bing)将测(ce)试(shi)的(de)(de)焊点与数据库中的(de)(de)合格参(can)数进(jin)行比较。图(tu)像(xiang)处(chu)理后(hou)，检查PCB上(shang)的(de)(de)缺陷(xian)，并(bing)通(tong)过(guo)显(xian)示屏或自(zi)(zi)动(dong)(dong)标记(ji)显(xian)示/标记(ji)缺陷(xian)。

Prisma 3D全部查(cha)出虚焊(han)、浮(fu)高、翘脚(jiao) 零件翘起(qi)、爬锡高度。可以(yi)与MES系(xi)统无缝连接。拥有2500万/1500万像素相机，4组数字(zi)蓝(lan)色(se)摩尔(er)条纹(wen)光，9段(duan)彩色(se)同(tong)轴照(zhao)明(ming)光，3D和2D检测模式(shi)灵活(huo)切换。扬州国(guo)产3DAOI测试降(jiang)低(di)误报率以(yi)及降(jiang)低(di)人工成本的(de)要求，进而(er)促进立体(ti)3D AOI的(de)影像技术的(de)发展。

AOI是自动(dong)光(guang)学检测(ce)(ce)仪的(de)(de)(de)英(ying)文缩写(xie)，通(tong)常(chang)简称(cheng)为(wei)AOI，AOI一般(ban)设(she)置在回(hui)流(liu)焊(han)(han)后面，检测(ce)(ce)回(hui)流(liu)焊(han)(han)接的(de)(de)(de)品质问题，AOI的(de)(de)(de)误判率(lv)低，直通(tong)率(lv)高(gao)，操作编程简单，稳定性好，就(jiu)是一台好的(de)(de)(de)AOI，AOI现在在基本上在每个SMT贴片(pian)加工厂(chang)都有，是重(zhong)要的(de)(de)(de)检测(ce)(ce)工具(ju)。AOI检测(ce)(ce)仪通(tong)过高(gao)清CCD摄(she)像(xiang)(xiang)头自动(dong)扫描PCBA产品，采集图像(xiang)(xiang)，将采集的(de)(de)(de)测(ce)(ce)试检测(ce)(ce)点与数据(ju)库中的(de)(de)(de)合格的(de)(de)(de)参(can)数进行比(bi)较，经过算(suan)法(fa)分析和图像(xiang)(xiang)处理(li)，检查出产品上的(de)(de)(de)缺陷(xian)，并通(tong)过显示(shi)(shi)器把缺陷(xian)显示(shi)(shi)/标示(shi)(shi)出来，供维(wei)修人员修整和SMT工程人员改善工艺。

aoi自动(dong)光学(xue)(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)仪(yi)作为前列前沿的(de)光学(xue)(xue)(xue)视(shi)觉(jue)科(ke)学(xue)(xue)(xue)技(ji)(ji)术(shu)，随(sui)着相关科(ke)研人员的(de)不(bu)断努力，各种(zhong)不(bu)同类型(xing)的(de)新型(xing)光学(xue)(xue)(xue)视(shi)觉(jue)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)术(shu)都相继(ji)问世，特征矢量(liang)(liang)分析(xi)(xi)AOI技(ji)(ji)术(shu)、学(xue)(xue)(xue)习型(xing)图(tu)像对(dui)比AOI技(ji)(ji)术(shu)、统计外(wai)形建模AOI技(ji)(ji)术(shu)是现在(zai)AOI光学(xue)(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)三(san)种(zhong)技(ji)(ji)术(shu)。这是一种(zhong)新颖(ying)的(de)光学(xue)(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)技(ji)(ji)术(shu)，矢量(liang)(liang)AOI自动(dong)光学(xue)(xue)(xue)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)设(she)备攻(gong)克波峰(feng)焊后AI插件(jian)DIP工艺。矢量(liang)(liang)分析(xi)(xi)技(ji)(ji)术(shu)AOI设(she)备的(de)检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)应用范(fan)围：波峰(feng)焊后AI通孔插件(jian)DIP检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)FPC柔性线路板检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)SMT回流炉前/炉后SMT基(ji)板外(wai)观检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)这种(zhong)方式aoi比传(chuan)统检(jian)测(ce)(ce)(ce)(ce)方法准确10倍以上，如(ru)角度测(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值可达±0.02°精度范(fan)围。由于优异(yi)性能和市场(chang)(chang)需求(qiu)，线上3D AOI设(she)备正在(zai)占领市场(chang)(chang)。

3DAOI的(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)优(you)势(shi)改善(shan)操作(zuo)性：通(tong)过3D高(gao)度(du)信息让编程(cheng)更加(jia)简单(dan)方便(bian)，编程(cheng)时(shi)间大(da)幅度(du)缩短(duan)，节省限(xian)现场工(gong)程(cheng)师的(de)(de)(de)负担，降低人工(gong)成本。改善(shan)品质：可以准确捕(bu)捉元件(jian)引脚(jiao)的(de)(de)(de)浮翘不良，极(ji)高(gao)的(de)(de)(de)检(jian)(jian)(jian)(jian)出率(lv)使(shi)产品的(de)(de)(de)品质得(de)到(dao)保(bao)障。改善(shan)效率(lv)：在2D检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)的(de)(de)(de)基(ji)(ji)础(chu)上(shang)增加(jia)强大(da)的(de)(de)(de)3D检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)功能让检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)流(liu)程(cheng)更顺(shun)畅。2D难(nan)以检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)白(bai)色基(ji)(ji)板(ban)(ban)，因2D通(tong)过调整灰(hui)度(du)，色度(du)来提(ti)取(qu)，基(ji)(ji)板(ban)(ban)和元件(jian)颜(yan)色相近时(shi)，提(ti)取(qu)结果会(hui)受到(dao)干扰(rao)。而(er)3D检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)不需要考(kao)虑基(ji)(ji)板(ban)(ban)，元器件(jian)颜(yan)色的(de)(de)(de)色差干扰(rao)，因3D根(gen)据(ju)高(gao)度(du)提(ti)取(qu)，白(bai)色基(ji)(ji)板(ban)(ban)上(shang)的(de)(de)(de)元件(jian)通(tong)过3D可以轻而(er)易举的(de)(de)(de)进(jin)行提(ti)取(qu)，3D高(gao)度(du)可以轻松检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)2D难(nan)以识别的(de)(de)(de)极(ji)性标记。结合四方位多(duo)频数字条纹光(guang).进(jin)行无阴影投影，具备全板(ban)(ban)2D+3D的(de)(de)(de)光(guang)学检(jian)(jian)(jian)(jian)查(cha)(cha)功能。浙江3DAOI测试原理

和3DAOI对比2D难以(yi)检(jian)查(cha)白色(se)基(ji)板，因2D通(tong)过调(diao)整灰度色(se)度来(lai)提(ti)取(qu)，基(ji)板和元件(jian)颜色(se)相(xiang)近时，提(ti)取(qu)结果受到干扰。常州光学检(jian)测3DAOIi能检(jian)验出(chu)虚焊(han)吗

轻蜓视(shi)(shi)觉使用的(de)(de)AI视(shi)(shi)觉检测(ce)(ce)设备采(cai)用的(de)(de)卷(juan)积(ji)神经(jing)网络，（ConvolutionalNeuralNetworks,CNN）是一类包含卷(juan)积(ji)计算且具有深度结(jie)构(gou)的(de)(de)前馈(kui)神经(jing)网络（FeedforwardNeuralNetworks），是深度学(xue)习(xi)（deeplearning）的(de)(de)**算法之一。卷(juan)积(ji)神经(jing)网络在学(xue)习(xi)数据充足时有稳(wen)定的(de)(de)表现。针对(dui)本(ben)系(xi)统所(suo)处理的(de)(de)大(da)规模图(tu)像分类问题(ti)，卷(juan)积(ji)神经(jing)网络将(jiang)用于提取图(tu)像的(de)(de)判别特征(zheng)，再(zai)通(tong)过分类器进行学(xue)习(xi)和识(shi)别。Prisma3D由于测(ce)(ce)试高(gao)度的(de)(de)精确性（0.4um），在汽车(che)电子，MINILED芯(xin)片测(ce)(ce)试，半(ban)导(dao)体封装，存(cun)储芯(xin)片及各种(zhong)贴装线路板上都有普遍(bian)的(de)(de)应(ying)用。常州光学(xue)检测(ce)(ce)3DAOIi能检验出虚焊(han)吗

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